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雙棱鏡光干涉實驗儀

雙棱鏡可將一束相干光的波前分成兩部分，形成分波面干涉，利用測量干涉條紋間距(毫米量級),求得光的波長(納米量級。本儀器可供大專院校基礎物理實驗和設計性研究性物理實驗。
功能特點：
1.配有半導體激光 (650.0nm)單色光源，半導體激光經大幅度降低光強處理，用其作光源具有相干性且不傷害眼睛的優點，可很方便調出圖像清晰干涉條紋，也為鈉光干涉條紋調節帶來方便，測量二種光的波長進行比較。
2.導軌和轉盤采用高強度鋁合金材料、燕尾槽結構、轉盤靈活、生銹、經久耐用、手感好。
3.帶有黑色擋光罩，可在白光及通風條件下做光學實驗。
實驗目的：
1.觀察雙棱鏡的干涉現象。
2.測量激光器的波長以及鈉燈黃光的波長。
3.觀察其他光源的雙棱鏡光干涉現象。
參數：
導軌：長80.0cm，分度值1mm；滑塊5只，其中1個滑塊上帶轉動裝置
帶轉盤的狹縫：縫寬約0.04mm
測微目鏡和支架：測微目鏡量程0-8mm，分度值0.01mm
光源：半導體激光器，光波長650.0nm，已大幅度衰減光強。工作電壓直流3V
鈉光燈及電源