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武漢東隆科技有限公司自研的光矢量分析儀OCI-V其原理是采用線性掃頻光源對待測器件進行掃描，并結合相干檢測技術獲取待測器件的瓊斯矩陣，進而獲得器件插損、色散、偏振相關損耗、偏振模色散等光學參數。該系統采用光路設計以及先進算法，實現智能校準，操作簡單，極大節省測試時間。
特點：
自校準
測量長度：200m
波段：C+L、O波段（可選）
1秒內測量多種光學參數
應用：
平面波導器件
硅光器件
光纖器件
波長可調器件、放大器、濾波器
測量參數：
偏振相關損耗PDL
偏振模色散PMD
插損IL
群延時GD
色散CD
瓊斯矩陣參數
光學相位
參數：
武漢東隆科技有限公司 - 主營產品： OCT光柵,單光子PMT,激光光束品質分析儀,相干coher ...
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