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北京位錯(cuò)層錯(cuò)劃痕測(cè)定儀硅片缺陷觀測(cè)儀（HS-WDI），于對(duì)硅片的缺陷進(jìn)行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等。
實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì)，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備，能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果；
產(chǎn)品分類品牌分類
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示波器、示波表 鉗形表 接地故障/電纜故障檢測(cè)儀 電阻測(cè)試儀 絕緣電阻測(cè)試儀（兆歐表） 無線/高壓核相儀 場(chǎng)強(qiáng)儀 信號(hào)發(fā)生器/信號(hào)測(cè)量儀 電流發(fā)生器、電流測(cè)量儀 電阻率測(cè)定儀 萬用表、多用表 電泳儀 功率測(cè)試儀/功率表/功率計(jì) 尋星儀 變比測(cè)量儀 氧化鋅避雷器檢測(cè)儀 繼電保護(hù)測(cè)試儀/繼電器 電位差計(jì)/電位儀 電能表/電流表/電壓表 電火花檢測(cè)儀 相位/伏安表 絕緣油測(cè)定儀 地下管道/管線檢測(cè)設(shè)備 其他電力設(shè)備
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二氧化碳測(cè)量儀 復(fù)合、四合一氣體檢測(cè)儀 CO/一氧化碳檢測(cè)報(bào)警儀 SF6/六氟化硫檢測(cè)檢漏儀 可燃?xì)怏w檢測(cè)儀 氧氣檢測(cè)/報(bào)警儀 VOC檢測(cè)儀 硫化氫檢測(cè)儀、二氧化硫 甲醛檢測(cè)儀 CO2/二氧化碳檢測(cè)儀 有毒氣體檢測(cè)儀 NO/一氧化氮檢測(cè)儀 酒精檢測(cè)儀 氨氣檢測(cè)儀/氨氮分析儀 臭氧檢測(cè)儀 氡氣檢測(cè)儀、測(cè)氡儀 紅外氣體分析儀 氫氣檢測(cè)儀 甲烷檢測(cè)儀 氣體應(yīng)急檢測(cè)箱 氬氣檢測(cè)儀、煤氣分析儀 其他氣體檢測(cè)儀系列
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測(cè)汞儀 反應(yīng)釜、反應(yīng)器 旋轉(zhuǎn)蒸發(fā)器 恒溫水浴/油浴 磁力攪拌器/電動(dòng)攪拌器 粉碎機(jī)/破碎機(jī)/球磨機(jī) 微波反應(yīng)器/消解儀 離心機(jī)/離心泵、蠕動(dòng)泵 比重計(jì)/密度計(jì) 冷藏運(yùn)輸設(shè)備 培養(yǎng)箱/試驗(yàn)箱/干燥箱 滅菌器/接種器 電熱套/電熱板 真空泵/循環(huán)泵/循環(huán)器 定氮儀/吹氮儀/定硫儀 干燥機(jī)/冷凍機(jī) 脂肪測(cè)定儀、蒸發(fā)器 天平/秤 石油/潤滑油檢測(cè)設(shè)備 露點(diǎn)儀、水分儀/水分測(cè)定 試驗(yàn)機(jī) 振蕩器/搖床 滴定儀/庫侖儀 粘度計(jì) 熔點(diǎn)儀 測(cè)硫儀/定硫儀 蒸餾器/蒸餾水器 溶出杯/溶出試驗(yàn)儀 金相試樣制備設(shè)備 真空表/水表、界面張力儀 電爐/馬弗爐/電阻爐 氧彈熱量計(jì)/熱值測(cè)試儀 混合器/混勻器/均質(zhì)器 潔凈工作臺(tái)/凈化工作臺(tái) 勻漿器/分散機(jī)/均化儀 酶標(biāo)儀 超聲波清洗器 其他實(shí)驗(yàn)室化工設(shè)備
產(chǎn)品簡介
詳細(xì)介紹
硅片缺陷觀測(cè)儀 位錯(cuò)層錯(cuò)劃痕測(cè)定儀
型號(hào)：GR/HS-WDI
北京位錯(cuò)層錯(cuò)劃痕測(cè)定儀硅片缺陷觀測(cè)儀(HS-WDI)，于對(duì)硅片的缺陷進(jìn)行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等。
實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì)，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備，能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果；產(chǎn)品特點(diǎn)
■北京位錯(cuò)層錯(cuò)劃痕測(cè)定儀適用于對(duì)硅片的缺陷觀察效果，非常明顯，包括肉眼無法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等；
■使硅片缺陷觀察工作簡單化，準(zhǔn)確化，同時(shí)極大程度降低此項(xiàng)工作強(qiáng)度；
■實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì)，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備，能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果；
■使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有體積小，技術(shù)*，像素較高， 成像清晰 、線條細(xì)膩、色彩豐富；
■傳輸接口為 USB2.0 高速接口， 軟件模塊化設(shè)計(jì) ；
■有效分辨率為 200 萬像素；
■所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。
推薦工作條件
■溫度：23±2℃
■濕度：60%~70%
■無強(qiáng)磁場(chǎng)、不與高頻設(shè)備鄰近硅片缺陷觀測(cè)儀(HS-WDI)，于對(duì)硅片的缺陷進(jìn)行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等。
實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì)，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備，能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果；產(chǎn)品特點(diǎn)
■適用于對(duì)硅片的缺陷觀察效果，非常明顯，包括肉眼無法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等；
■使硅片缺陷觀察工作簡單化，準(zhǔn)確化，同時(shí)極大程度降低此項(xiàng)工作強(qiáng)度；
■實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì)，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備，能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果；
■使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有體積小，技術(shù)*，像素較高， 成像清晰 、線條細(xì)膩、色彩豐富；
■傳輸接口為 USB2.0 高速接口， 軟件模塊化設(shè)計(jì) ；
■有效分辨率為 200 萬像素；
■所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。
推薦工作條件
■溫度：23±2℃
■濕度：60%~70%
■無強(qiáng)磁場(chǎng)、不與高頻設(shè)備鄰近硅片缺陷觀測(cè)儀(HS-WDI)，于對(duì)硅片的缺陷進(jìn)行觀察，效果非常明顯，包括肉眼無法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等。
實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì)，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備，能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果；產(chǎn)品特點(diǎn)
■適用于對(duì)硅片的缺陷觀察效果，非常明顯，包括肉眼無法觀測(cè)的位錯(cuò)、層錯(cuò)、劃痕、崩邊等；
■使硅片缺陷觀察工作簡單化，準(zhǔn)確化，同時(shí)極大程度降低此項(xiàng)工作強(qiáng)度；
■實(shí)時(shí)對(duì)圖像進(jìn)行分析、測(cè)量和統(tǒng)計(jì)，提高傳統(tǒng)光學(xué)儀器的使用內(nèi)涵。配合投影儀和計(jì)算機(jī)等顯示、存儲(chǔ)設(shè)備，能更好的觀測(cè)和保存研究結(jié)果；
■使用 1/2"CMOS 感光芯片，具有體積小，技術(shù)*，像素較高， 成像清晰 、線條細(xì)膩、色彩豐富；
■傳輸接口為 USB2.0 高速接口， 軟件模塊化設(shè)計(jì) ；
■有效分辨率為 200 萬像素；
■所配軟件能兼容 windows 2000 和 windows XP 操作系統(tǒng)。
推薦工作條件
■溫度：23±2℃
■濕度：60%~70%
■無強(qiáng)磁場(chǎng)、不與高頻設(shè)備鄰近