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四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
四探針探頭 探頭 型號：GSZ-HP-501
四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻（面電阻）的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。
| ◆ 特性及規格： | ||||||||||
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型號 | 曲率半徑 | 壓力 | 探針間距 | 探針排列 |
GSZ-HP-501 | 0.5mm | 100g | 3.8mm | 直線 |
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