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iEDX-150T鍍層測厚儀應用于金屬電鍍鍍層分析領域
技術指標
多鍍層分析，1～5層
測試精度：0.001 μm
元素分析范圍從鋁(Al)到鈾(U)
測量時間：10~30秒
SDD探測器，能量分辨率為125±5eV
探測器Be窗0.5mil（12.7μm）
微焦X射線管50KV/1mA，鉬，銠靶（高配微焦鉬靶）
6個準直器及多個濾光片自動切換
XYZ三維移動平臺，大荷載為5公斤
高清CCD攝像頭（200萬像素），精確監控位置
多變量非線性去卷積曲線擬合
高性能FP/MLSQ分析
儀器尺寸：618×525×490mm
平臺移動范圍：160×160×100mm
圖譜界面
軟件支持無標樣分析
超大分析平臺和樣品腔
集成了鍍層界面和合金成分分析界面
采用*的多種光譜擬合分析處理技術
鍍層測厚分析精度可達到0.001μm
分析報告結果
直接打印分析報告
報告可轉換為PDF，EXCEL格式
樣品分析圖譜：
測試結果界面：
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