掃描電鏡高溫原位系統 參考價：面議
掃描電鏡高溫原位系統通過MEMS芯片對樣品施加熱場控制，在原位樣品臺內構建熱場自動控制及反饋測量系統，結合EDS、EBSD等多種不同模式，實現從納米甚至原子層面...
原位冷凍樣品桿 參考價：面議
透射電鏡4孔樣品桿可將最多4個樣品同時置入透射電鏡中，與市面常見的3孔樣品桿相比，大幅提高透射電鏡的使用效率。全新的結構設計及超高精度的旋鈕換樣方式，幫助降低漂...
掃描電鏡高溫原位系統-基礎版 參考價：面議
掃描電鏡加熱原位系統通過MEMS芯片對樣品施加熱場控制，在原位樣品臺內構建熱場自動控制及反饋測量系統，結合EDS、EBSD等多種測試模式，實現從納米甚至原子層面...
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