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| 供貨周期 | 兩周 | 規(guī)格 | 1包以上（100個/包）。 |
|---|---|---|---|
| 貨號 | SC-3345 | 主要用途 | 用于XRF樣品制備、檢測過程 |
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
XRF樣品測試杯規(guī)格、射線熒光樣品器、土壤樣品杯、美國Premier樣品杯SC-3345
一、美國Premier XRF樣品杯：
美國Premier Lab Supply公司專注于X射線光譜分析XRF的樣品制備領域，以高質量和全面的X射線的樣品制備產(chǎn)品線享譽。
Premier XRF樣品杯能用于固體、液體、粉末、顆粒、土壤等樣品XRF檢測，適用于RoHS&WEEE檢測、油品成份分析、金屬成份分析等。被廣泛應用于XRF樣品制備、檢測過程，適用于各類X-ray光譜儀（XRF：WD-XRF、ED-XRF）。
為了對樣品杯與XRF儀器提供的樣品夾持設備（金屬樣本杯、旋轉盤、滑動平臺、固定臺等）進行匹配，購買樣品杯前請告知您使用過的樣品杯型號(CAT. NO)，或X熒光光譜儀品牌和型號，或請直接測量儀器樣品夾持設備的內徑、高度和孔徑。
品名：XRF樣品杯Sample Cups
型號： CAT. NO SC-3345
品牌：美國Premier Lab （*）
貨期：現(xiàn)貨
起訂量：1包以上（100個/包）。
二、適用于各種品牌X熒光光譜儀XRF：
日本島津shimadzu、牛津儀器Oxford、斯派克Spectro、布魯克Bruker、日本精工SII、日本電子JEOL、日本理學Rigaku、日本堀場Horiba、熱電Thermo、帕納科Panalytical、尼通Niton、伊諾斯Innox-X、天瑞Skyray、Jordan Valley、ARL、Asoma、Kevex、Metorex、Siemens、Spectrace、Philips、Fisons。
美國Premier樣品杯SC-3345
CAT. NO 高 內徑 外徑 容積 數(shù)量
SC-3345 40mm 37mm 45mm 40mL 100個/包
常用的光譜儀(薄膜）樣品杯SC-3345
常用的光譜儀(薄膜）樣品杯SC-3345
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