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T-450采用高精度X射線熒光(HDXRF)技術，通過采用*單色和聚焦光學器件雙曲面彎晶光學晶體(DCC),將設備信噪比大幅提高，使得與傳統能量色散X射線熒光技術(EDXRF)相比的檢測精度大大提升。圖1顯示了HDXRF技術設備基本結構，雙曲面彎晶光學晶體(DCC)將來自射線源的多色光轉入高能單色光并有效聚焦到測量樣品上，樣品經聚焦后的高能單色光束激發后其中的重金屬元素發射出各自的特征X射線熒光信號，高分辨率SDD半導體檢測器對信號進行收集與處理，最后由軟件FP算法計算得出樣品中所含元素含量。

表4.檢出限(單位：mg/kg)

元素

鎘(cd)

鉛(Pb)

砷(As)

檢出限

0.015

0.025

0.025

規格

T-450

合規性

GB2762-2017

測量方法

高精度X射線熒光光譜法-HDXRF

X射線管

50kV,1mA

探測器

Fast SDD探測器

光學系統

雙曲面彎晶晶體-DCC

測量時間

30s-1200s可選

測量范圍

分析元素：Cd,Ni, Cu, Zn,As,Pb等

工作溫度

-5℃~50℃

鎘的合規檢測

T-450基于HDXRF@技術，可快速準確定量分析食物、糧食中鎘等重金屬元素，

檢測性能可以滿足中國食品安全國家標準要求-檢出限輕松應對大米中鎘元素的法規限值0.2mg/kg。

此外，T-450亦可對大米中的砷進行初步篩選定性分析。

快速掃描

T-450重量輕體積小，方便攜帶，操作簡單，無需復雜的樣品制備步驟，

輕松實現工作現場快速準確掃描分析的需要，其結果如表2所示。

1、兩分鐘快速掃描；

2、快速區分超標，合格，灰色地帶樣品；

儀器特點

1、不需要化學消解，測試速度快；

2、元素檢出限低，符合GB2762-2017;

3、分析模式：定性掃描分析模式、定量分析模式。

準確性和重復性

選取一定數量大米標準樣品，對其中的Cd鎘元素進行直接分析，

通過分析其測量值與標準值的相對誤差來考察儀器的測試準確性。

表3數據表明HDXRF在高低鎘含量檢測均可提供精確、穩定的結果，

0.2和0.1mg/kg樣品的分析誤差通常小于10%。