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產品簡介
生物醫療薄膜納米厚度測量儀依靠 F60光學膜厚測量儀 良好的光譜測量系統，可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。采用 r-θ 極坐標移動平臺，可以非常快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非常快速，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖
詳細介紹
生物醫療薄膜納米厚度測量儀
自動化薄膜厚度繪圖系統
依靠F60良好的光譜測量系統，可以很簡單快速地獲得薄膜的厚度分布圖。采用r-θ極坐標移動平臺，可以非常快速的定位所需測試的點并測試厚度，測試非常快速，大約每秒能測試兩點。用戶可以自己繪制需要的點位地圖。在約45秒的時間就可以掃描完標準49點分布圖。
為特定的測量要求設計許多特定功能，例如：自動尋找notch點、自動基準校正、封閉獨立的測試平臺和 已安裝好軟件的工業化電腦等。
生物醫療薄膜納米厚度測量儀
可測樣品膜層
基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系數的薄膜都可以測量。
例如：
氧化硅 | 氮化硅 | 類金剛石DLC |
光刻膠 | 聚合物 | 聚亞酰胺 |
多晶硅 | 非晶硅 | 硅 |
生物醫療薄膜納米厚度測量儀
相關應用
液晶顯示器
盒厚/聚酰亞胺/ITO
生物醫學
聚對二甲苯/生物膜/硝化纖維
半導體制造
光刻膠/氧化物/氮化物
光學鍍膜
硬涂層/抗反射涂層/濾光片
免費現場演示/支持
點幾下鼠標就可以在網絡上在線看到現場演示！請聯系我們，我們的應用工程師會在電腦上為您演示薄膜測量是多么容易！
