致遠(yuǎn) ZDL6000示波記錄儀

• 定制屬于自己的測試平臺

• 0.3%計(jì)量級測試精度

• 自由定制組合測試分析

• 集示波器和記錄儀于一體

計(jì)量級板卡精度

只有足夠高的測試精度，才能滿足復(fù)雜場景下的測試要求。ZDL6000的示波板卡測量精度Z高可達(dá)0.3%，非常適用于SiC、GaN等新材料電力電子器件的精確測量，同時(shí)可以作為標(biāo)準(zhǔn)實(shí)驗(yàn)室的計(jì)量檢測依據(jù)。

輸入通道之間全隔離測量

每臺示波記錄儀標(biāo)配8個(gè)板卡卡槽，各輸入通道之間相互絕緣隔離，盡可能地確保在強(qiáng)干擾、多參考電壓等復(fù)雜環(huán)境下的精確測試。

多種信號自由搭配

示波記錄儀可以提供電壓、電流、CAN、溫度…等多種輸入板卡，通道Z多可達(dá)128CH。用戶可根據(jù)具體的測試需求自由組合電信號和物理信號，滿足各種場景下的測試需求。

所有通道同步測試

示波記錄儀內(nèi)部設(shè)有高穩(wěn)定性溫度補(bǔ)償?shù)?00MHz同步時(shí)鐘，避免了溫度帶來時(shí)鐘漂移所引入的測量誤差。同時(shí)也保證了每一個(gè)通道ADC的采樣相位同步，減少了測量時(shí)通道間相位角所引入的誤差，誤差在3ns以內(nèi)，保證所有通道信號同步測試。

2Gpts大容量內(nèi)存波形存儲

在示波模式下，實(shí)時(shí)波形存儲深度高達(dá)2Gpts，配合Z高可達(dá)100MS/s采樣率的板卡，非常適合長時(shí)間的波形采集。如果8個(gè)卡槽全部選配，可輕松實(shí)現(xiàn)16通道隔離示波器功能。

Z高2T固態(tài)硬盤存儲

在記錄模式下，示波記錄儀Z高可選配2T固態(tài)硬盤實(shí)時(shí)存儲，實(shí)時(shí)記錄采樣率可達(dá)1MSa/s，用作測量平臺時(shí)，耐久性測試的數(shù)據(jù)記錄時(shí)間可長達(dá)500天。

雙捕獲模式（后續(xù)上線）

長時(shí)間的趨勢數(shù)據(jù)通常采用低采樣率采集趨勢數(shù)據(jù)，但突發(fā)的高度瞬態(tài)異常信號需要采用高采樣率捕捉。通過雙捕獲功能，可以同時(shí)設(shè)置兩個(gè)不同的采樣率來滿足數(shù)據(jù)捕獲要求。在波形處于正常狀態(tài)時(shí)，保持低采樣率記錄波形變化趨勢，一旦波形滿足觸發(fā)條件，示波記錄儀將立即切換到Z高100MS/s的速度記錄高速瞬態(tài)事件。