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詳細(xì)摘要： 美國TSI 空氣動力學(xué)粒徑譜儀：是TSI公司開發(fā)出的磚利儀器，其測定氣溶膠顆粒的空氣動力學(xué)粒徑，并給出氣溶膠數(shù)量濃度、表面積濃度、體積濃度及質(zhì)量濃度隨粒徑的分布...

詳細(xì)摘要： 美國TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀：廣泛用于測量空氣中的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)。這一系統(tǒng)也經(jīng)常用來使懸浮在液體中的顆粒的顆粒尺寸的測量精度。

詳細(xì)摘要： 美國TSI 發(fā)動機(jī)廢氣排放顆粒物粒徑譜儀：為TSI公司基于在電子遷移技術(shù)方面近40年的經(jīng)驗，特別為發(fā)動機(jī)尾氣顆粒物的測定設(shè)計的顆粒物的粒徑分布測定儀。

詳細(xì)摘要： 美國TSI光學(xué)顆粒物粒徑譜儀:是一款輕型便攜式裝置，它采用單粒子計數(shù)技術(shù)，能夠提供快速經(jīng)確的粒子濃度和粒徑分布檢測。OPS 憑借 40 多年的氣溶膠儀器設(shè)計經(jīng)驗...

詳細(xì)摘要： 美國TSI 納米顆粒粒徑譜儀產(chǎn)品詳情NanoScan SMPS 打開納米顆粒粒徑常規(guī)測量的大門。此粒徑譜儀將TSI 公司的SMPSTM 粒徑譜儀集成在約一個籃球...