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XTU-50B X射線熒光譜儀是一款設計結構緊湊，模塊精密化程度*的鍍層測厚儀，采用了下照式C型腔體設計，不但可以測量各種微小樣品，即使大型超出樣品腔尺寸的工件也可測量，是一款測量涂鍍層成分及厚度性價比高、適用性強的機型。
應用領域
線路板、引線框架及電子元器件接插件檢測
鍍純金、K金、鉑、銀等各種飾品的膜層成分和厚度分析
手表、精密儀表制造行業
釹鐵硼磁鐵上的Ni/Cu/Ni/FeNdB
汽車、五金、電子產品等緊固件的表面處理檢測
衛浴產品、裝飾把手上的Cr/Ni/Cu/CuZn(ABS)
電鍍液的金屬陽離子檢測
XTU-50B X射線熒光譜儀性能優勢：
下照式設計：可以快速方便地定位對焦樣品。
無損變焦檢測:可對各種異形凹槽進行無損檢測，凹槽深度范圍0-90mm.
微聚焦射線裝置：可檢測面積小于0.002mm2的樣品，可測試各微小的部件。
高效率的接收器：即使測試0.01mm2以下的樣品，幾秒鐘也能達到穩定性。
精密微型滑軌：快速定位樣品。
EFP*算法軟件：多層多元素，甚至有同種元素在不同層也難不倒EFP算法軟件。
項 目 參 數
測量元素范圍 Cl（17）-U（92）
涂鍍層分析范圍 各種元素及有機物
分析軟件 EFP，可同時分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析
軟件操作 人性化封閉軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤
X射線裝置 W靶微聚焦加強型射線管
準直器 ? 0.05 mm ；? 0.1 mm；? 0.2 mm；? 0.5 mm；準直器任意選擇一種
近測距光斑擴散度 10%
測量距離 具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm)
樣品觀察 1/2.5彩色CCD，變焦功能
對焦方式 高敏感鏡頭，手動對焦
放大倍數 光學38-46X，數字放大40-200倍
樣品臺尺寸 500mm*360mm
移動方式 高精密XY手動滑軌
可移動范圍 50mm*50mm
隨機標準片 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um
其它附件 聯想電腦一套、噴墨打印機、附件箱
| 項 目 | 參 數 |
| 測量元素范圍 | Cl（17）-U（92） |
| 涂鍍層分析范圍 | 各種元素及有機物 |
| 分析軟件 | EFP，可同時分析23層鍍層，24種元素，不同層有相同元素也可分析 |
| 軟件操作 | 人性化封閉軟件，自動提示校正和步驟，避免操作錯誤 |
| X射線裝置 | W靶微聚焦加強型射線管 |
| 準直器 | ? 0.05 mm ；? 0.1 mm；? 0.2 mm；? 0.5 mm；準直器任意選擇一種 |
| 近測距光斑擴散度 | 10% |
| 測量距離 | 具有距離補償功能，可改變測量距離，能測量凹凸異型樣品，變焦距離0-30mm(特殊要求可以升級到90mm) |
| 樣品觀察 | 1/2.5彩色CCD，變焦功能 |
| 對焦方式 | 高敏感鏡頭，手動對焦 |
| 放大倍數 | 光學38-46X，數字放大40-200倍 |
| 樣品臺尺寸 | 500mm*360mm |
| 移動方式 | 高精密XY手動滑軌 |
| 可移動范圍 | 50mm*50mm |
| 隨機標準片 | 十二元素片、Ni/Fe 5um、Au/Ni/Cu 0.1um/2um |
| 其它附件 | 聯想電腦一套、噴墨打印機、附件箱 |
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