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x光鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

元素分析范圍：S-U

含量分析范圍：PPM-99％

電壓：220V正負(fù)5V

測(cè)試平臺(tái)：三維維樣品移動(dòng)平臺(tái)

探測(cè)器：SDD探測(cè)器

儀器尺寸：690（W）x 575（D）x 660（H）mm

樣品室尺寸：520（W）x 395（D）x150（H）mm

樣品臺(tái)尺寸：393（W）x 258 （D）mm

x光鍍層測(cè)厚儀工作原理

當(dāng)輻射撞擊在比例器后，即轉(zhuǎn)換為近幾年的脈波。電路輸出脈沖高度與能量撞擊大小成正比。由特殊物質(zhì)所發(fā)出的X-射線可由其后的鑒別電路記錄。

使用X-射線熒光原理測(cè)厚，將被測(cè)物置于儀器中，使待測(cè)部位受到X-射線的照射。此時(shí)，特定X-射線將由鍍膜、素材及任何中間層膜產(chǎn)生，而檢測(cè)系統(tǒng)將其轉(zhuǎn)換為成比例的電信號(hào)，且由儀器記錄下來(lái)，測(cè)量X-射線的強(qiáng)度可得到鍍膜的厚度。

應(yīng)用領(lǐng)域

汽車(chē)配件

五金工具

線路板

半導(dǎo)體框架

汽車(chē)空調(diào)設(shè)備

端子連接器

衛(wèi)浴、首飾等。