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利用熒光X射線得到物質(zhì)中的元素信息(組成和鍍層厚度)的螢光X射線法原理。和螢光X射線分析裝置一樣被使用的X射線衍射裝置是利用散亂X射線得到物質(zhì)的結(jié)晶信息(構(gòu)造)。而透過X射線多用于拍攝醫(yī)學(xué)透視照片。另外也用于機(jī)場的貨物檢查。象這樣根據(jù)想得到的物質(zhì)信息而定X射線的種類。我公司集中了國內(nèi)的X熒光分析﹑電子技術(shù)等行業(yè)技術(shù)研究開發(fā)專家及生產(chǎn)技術(shù)人員，依靠*科學(xué)研究，總結(jié)多年的現(xiàn)場應(yīng)用實(shí)踐經(jīng)驗(yàn)，結(jié)合中國的特色，開發(fā)生產(chǎn)出的電鍍膜厚光譜儀具有快速、準(zhǔn)確、簡便、實(shí)用等優(yōu)點(diǎn)，廣泛用于鍍層厚度的測量、電鍍液濃度的測量。

X熒光光譜測厚儀是能譜分析方法，屬于物理分析方法。樣品在受到X射線照射時，其中所含鍍層或基底材料元素的原子受到激發(fā)后會發(fā)射出各自的特征X射線，不同的元素有不同的特征X射線；探測器探測到這些特征X射線后，將其光信號轉(zhuǎn)變?yōu)槟M電信號；經(jīng)過模擬數(shù)字變換器將模擬電信號轉(zhuǎn)換為數(shù)字信號并送入計算機(jī)進(jìn)行處理；計算機(jī)的特殊應(yīng)用軟件根據(jù)獲取的譜峰信息，通過數(shù)據(jù)處理測定出被測鍍層樣品中所含元素的種類及各元素的鍍層厚度。

它能檢測出常見金屬鍍層厚度，無需樣品預(yù)處理；分析時間短，僅為數(shù)十秒，即可分析出各金屬鍍層的厚度；分析測量動態(tài)范圍寬，可從0.005μm到60μm。

鍍層測厚儀配置

開放式樣品腔。
精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實(shí)現(xiàn)三維移動。
雙激光定位裝置。
鉛玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探測器。
信號檢測電子電路。
高低壓電源。
X光管。
高度傳感器
保護(hù)傳感器
計算機(jī)及噴墨打印機(jī)

鍍層測厚儀應(yīng)用

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.
金屬鍍層的厚度測量 電鍍液和鍍層含量的測定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機(jī)構(gòu)；電鍍行業(yè)。

清晰明了,簡單易學(xué)，備受客戶青睞。