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鍍層厚度測試方法一般有以下幾種方法：
1、光學顯微鏡法。適用標準為：GB/T6462-2005
2、X-ray法（X射線法）。適用標準為：GB/T16921-2005
3、庫侖法，此法一般為仲裁方法。適用標準為：GB/T4955-2005
X光無損測厚儀原理
產生X射線的簡單方法是用加速后的電子撞擊金屬靶。撞擊過程中，電子突然減速，其損失的動能（其中的1%）會以光子形式放出，形成X光光譜的連續部分，稱之為制動輻射。通過加大加速電壓，電子攜帶的能量增大，則有可能將金屬原子的內層電子撞出。于是內層形成空穴，外層電子躍遷回內層填補空穴，同時放出波長在0.1納米左右的光子。由于外層電子躍遷放出的能量是量子化的，所以放出的光子的波長也集中在某些部分，形成了X光譜中的特征線，此稱為特性輻射。
X光無損測厚儀測量標準
1.國標GB/T 16921-2005/ISO 3497：2000
金屬覆蓋層 覆蓋層厚度測量X射線光譜方法
2.美國標準A754/A754M-08
Coating Weight（mass）of metallic Coatings on steel by X-Ray Fluorescence
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