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詳細摘要： GL7000溫度測量儀日本圖技GRAPHTEC示波器豐富的放大器單元，廣泛的應用通過擴展豐富的放大器單元，DATA PLATFORM GL7000可以在各種測量...

詳細摘要： 刻字機CE7000-60日本圖技GRAPHTEC測量您可以根據(jù)媒體從4種類型中進行選擇。尺寸陣容充分的基本表現(xiàn)大切割壓力4.41N，大速度1000mm / s功...

詳細摘要： 刻字機FC9000-75日本圖技GRAPHTEC測量它的大切割速度為1485 mm / s，大加速度為39.2 m / s 2，大切割壓力為5.88 N（600...

詳細摘要： 打印機LCX603日本圖技GRAPHTEC測量借助此打印機，實現(xiàn)標簽打印機的后處理！卷對卷兼容，可連續(xù)加工長達200 m的卷用于DLC的標準附件插件軟件Cutt...

詳細摘要： 打印機LCX1000系列日本圖技GRAPHTEC測量LABELROBO LCX1000系列是 一種基于“高質(zhì)量少量標簽，隨時隨地在工廠或辦公室中輕松創(chuàng)建標簽"概...

詳細摘要： 硬化判斷裝置日本EMIC艾美克磁力儀WT-4104這是用于焊接和熱處理的新檢查方法，并且是一種檢查設備，用于確定鋼材在焊接，硬度，材料和硬化深度方面是好還是壞。

詳細摘要： 低磁導率測量儀日本EMIC艾美克磁力儀導磁率低的材料可以在短時間內(nèi)準確測量。材料質(zhì)量控制很容易。您可以執(zhí)行異物混合測試

詳細摘要： EMIC艾美克磁力儀GM-4000/301系列用探頭BH分析儀測量磁性材料的BH特性。它適合于測量高頻特性，這些特性是磁特性的動態(tài)特性。高斯計磁場計的一種，它是...

詳細摘要： 通量計日本EMIC艾美克磁力儀FM-2000磁測量設備BH分析儀高斯計通量計整體探針磁鐵分析儀磁飽和感應測量裝置低磁導率測量儀標定設備關(guān)于T-401，T-402...

詳細摘要： 高斯計日本EMIC艾美克磁力儀GM-5122它可以測量1 / 10,000地磁的世界，并能以高精度檢測過去無法捕獲的超低磁場。

詳細摘要： 高斯計日本EMIC艾美克磁力儀GM-5016廣泛的測量（0.0001mT?4.0000T）準確的磁場梯度是直讀清晰的，兩點之間明亮的VFD顯示場同時顯示40,0...

詳細摘要： 剩磁測量儀日本EMIC艾美克磁通計微磁場傳感器/元件敏感部分大顯示為60μm×150μm顯示3,000個計數(shù)顯示/ 16個字符2個字符串點顯示更換探頭...

詳細摘要： 渦流探傷儀日本EMIC艾美克磁通計ET-5022適用于 自動探傷的矢量液晶顯示器配備各種狀態(tài)設置顯示器通過直接按鍵開關(guān)即可輕松進行條件設置通過與現(xiàn)有的檢查運輸線...

詳細摘要： 渦流探傷儀日本EMIC艾美克磁通計ET-5032通過結(jié)合現(xiàn)有的檢查傳送帶生產(chǎn)線，適用于具有各種條件設置顯示（條件設置可以通過直接按鍵開關(guān)輕松設置）的自動缺陷矢量...

詳細摘要： FP100-1實驗室微管泵組日本*特征用于實驗室的小型流量管泵。也提供各種尺寸的管子。只需觸摸一下即可更換管子。使用啟動按鈕，您可以快速入門。也可以將另售的DG...

詳細摘要： 磁粉探傷儀日本EMIC艾美克特斯拉儀表磁性材料的剩余磁通密度的測量●永磁體的簡單測量測量范圍30mT，300mT，1000mT（3個范圍）測得的磁場頻率直流/交...

詳細摘要： 簡易磁粉密度儀日本EMIC艾美克磁粉探傷儀通過測量磁粉的亮度以數(shù)字方式顯示磁粉濃度。短時間內(nèi)進行測量有助于提高檢查水平。

詳細摘要： 紫外線強度計日本EMIC艾美克磁粉探傷儀通過采用0-45mW / cm2的超寬范圍峰值保持功能，可顯著降低功耗

詳細摘要： 日本EMIC艾美克約克型磁粉探傷儀作為極性磁探傷儀的型號，它已在所有探傷場景中采用。探傷能力清除了JIS測試片7/50，提升能力也滿足了美國標準（ASTEM E...

詳細摘要： AD-4932A-50N數(shù)字測力計測量儀日本*手持式測力計，易于操作和高精度測量。　可以進行各種測試，例如按壓力，拉伸力，粘合力等。　具有峰值保持功能和自動關(guān)機...