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方塊電阻測(cè)試儀GSZ-ST-21
閱讀：189 發(fā)布時(shí)間：2025-7-29| 提 供 商 | 山東鴻得實(shí)業(yè)有限公司 | 資料大小 | 27KB |
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方塊電阻測(cè)試儀/電阻測(cè)試儀
型號(hào)：GSZ-ST-21
方塊電阻測(cè)試儀是一種依照類(lèi)似的國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和美國(guó)A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)，專(zhuān)門(mén)測(cè)量半導(dǎo)體薄層電阻（表面電阻）的新型儀器，可用于測(cè)量一般半導(dǎo)體材料、導(dǎo)電薄膜（ITO透明氧化膜），金屬薄膜……等同類(lèi)物質(zhì)的薄層電阻。
該儀器以大規(guī)模集成電路為主要核心；用基準(zhǔn)電源和運(yùn)算放大器組成高精度穩(wěn)流源；帶回路有效正常指示電路；并配以大型LCD顯示讀數(shù)，使儀器具有體積小、重量輕、外形美、易操作、測(cè)量速度快、精度高的特點(diǎn)。
| ◆ 特點(diǎn)： | ||||||||||||||
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| ◆ 技術(shù)指標(biāo)： | ||||||||||||||
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