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貨物所在地:北京北京市
更新時(shí)間:2025-07-18 13:55:54
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透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)-樣品桿,透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)是在標(biāo)配MEMS芯片樣品桿上集成低溫控制模塊,實(shí)現(xiàn)低溫電學(xué)測(cè)量或全溫區(qū)測(cè)量功能。
性能指標(biāo)
透射電子顯微鏡指標(biāo):
● 兼容型號(hào)電鏡及極靴;
● 單傾可選高傾角版本;
● 可選雙傾版本,β角傾轉(zhuǎn)±25°(同時(shí)受限于極靴);
● 測(cè)量電極數(shù)可選。
電學(xué)測(cè)量指標(biāo):
● 包含一個(gè)電流電壓測(cè)試單元;
● 電壓輸出大±200 V,小±100 nV;
● 電流測(cè)量大±1.5 A,小100 fA;
● 恒壓或者恒流模式;
● 自動(dòng)電流-電壓(I-V)測(cè)量、電流-時(shí)間(I-t)測(cè)量,自動(dòng)保存。
透射電鏡原位MEMS低溫電學(xué)測(cè)量系統(tǒng)-樣品桿
低溫指標(biāo):
● 兼容MEMS加熱及電學(xué)芯片;
● 全溫區(qū)測(cè)量,溫度范圍:85 K- 380 K;
● 控溫穩(wěn)定性:優(yōu)于±0.1 K;
● 溫度連續(xù)可控。
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