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GJB 2117-1994 橫電磁波室性能測(cè)試方法
閱讀：2360 發(fā)布時(shí)間：2021-5-13| 提 供 商 | 武漢弗凡科技有限責(zé)任公司 | 資料大小 | 385KB |
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GTEM小室橫電磁波室性能測(cè)試方法/TEM小室橫電磁波室性能測(cè)試方法
本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了橫電磁波室（TEM cell）電性能的測(cè)量。橫電磁波室包括對(duì)稱(chēng)型橫電磁波室、不對(duì)稱(chēng)型橫電磁波室（ATEM cell）和吉赫橫電磁波室（GTEM cell）。本標(biāo)準(zhǔn)適用于橫電磁波室的技術(shù)鑒定、生產(chǎn)定型和交收試驗(yàn)，并可指導(dǎo)橫電磁波室的研制。