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Chroma 7505-2線上型自動化光學檢測系統適用于ITO （Indium Tin Oxide）薄膜、RFID、FPC等連續式（Roll to Roll）制...

致茂Chroma 7505-1 多功能光學檢測系統一機具備1D、2D、3D量測能力具備膜厚量測功能（1D），使用穿透反射式量測，可進行非破壞式膜厚量測使用高解析...

致茂Chroma7505半導體*封裝光學測量系統整合白光干涉量測技術，進行非破壞性的光學尺寸量測。可進行待測物之關鍵尺寸（CD）、Overlay（OVL）及Th...

致茂Chroma 7925TO-CAN 封裝外觀檢測系統可檢測TO-CAN 封裝金屬外蓋與透鏡之刮傷、破裂、異物及膠合不良等缺陷具備自動對焦功能，可克服載盤制造...

致茂Chroma 58603 TO-CAN/CoC 燒機測試系統可提供燒機測試、信賴性測試與壽命測試每個系統可提供高達10 個模組測試支援 自動電流控制模式（A...

致茂58604雷射二極體燒機及可靠性測試系統可提供燒機測試，信賴性測試與老化測試支持自動電流控制模式（ACC）與自動功率控制模式（APC）個別通道（Channe...

致茂Chroma 58620 激光半導體特性測試機全自動化檢測邊射型激光半導體芯片高精密及高容量載具設計自動光纖耦合測試對位設計（Auto-alignment）...

致茂Chroma 7940 晶圓檢測系統可同時檢測正反兩面晶圓大可檢測6吋擴膜晶圓（檢測區域達8吋范圍 ）可因應不同產業的晶粒更換或新增檢測項目上片后晶圓自動對...

Chroma 58635-L/N/F光電組件晶圓點測系統58635-L光電組件晶圓LIV點測系統58635-N光電組件近場量測點測系統58635-F光電組件遠場...

54100/54130/54180致冷芯片溫度控制器54100致冷芯片溫度控制器54130-27-12致冷芯片控制器 300W54180-40-20致冷芯片控制...

致茂Chroma 58212-C LED電性測試系統高速高精度橫向、垂直和倒裝芯片寬功率測試范圍（高達200 V/2A）高達8英寸的晶片Chroma巨型光電探測...

致茂Chroma 58154/B/CESD 測試系統致茂Chroma58154ESD 測試系統 （4kV/400V）致茂Chroma58154-BESD 測試系...

致茂Chroma 58131 OLED 壽命周期測試系統獨立且精密的量測方式（PMU）提供高精確度的電壓及電流高精確度的量測能力單一待測物故障自我控制，不影響其...

Chroma A712306 液晶模組自動測試探頭可與液晶模組自動測試系統整合進行液晶模組自動閃爍調整可整合Chroma 29XX系列液晶模組自動測試系統支援F...

Chroma 29133/29135 液晶模組自動測試系統符合 Full HD 量測電腦平臺之液晶模組測試系統LVDS / TTL （選購） / TMDS信號提...

致茂Chroma 7600A前投式投影機自動測試系統0.001 Lux 超低照度顯示范圍符合ANSI-1997 , JBMIA,IEC&SJ/T等投影機測試標準...

Chroma 8910醫療設備電氣安規自動測試系統開放式架構的測試軟件支持下列電氣安規測試及產品功能測試的多信道掃描 : - AC/DC 耐壓測試 - IR絕緣...

Chroma 1911高容量電解電容自動測試系統測試參數LC/C/D一次完成一次測試八顆電解電容定電流充放電,測試漏電流特制測試夾固定住待測物由程式管理測試規格...

致茂Chroma1850電氣二重層電容自動測試系統自動電氣二重層電容老化功能電氣二重層電容漏電流（Leakage Current）、靜電容量（static ca...

Chroma 8802 電氣二重層電容漏電流測試系統適用于長時間電氣二重層電容漏電流測試測量參數 : 漏電流可程序充電/放電限電流功能，每信道大1安培充放電流的...