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高精度薄膜測(cè)厚儀應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)
閱讀：916 發(fā)布時(shí)間：2020-12-19
高精度薄膜測(cè)厚儀應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)請(qǐng)咨詢137,1509,5558
薄膜厚度測(cè)試儀是一款高精度薄膜、薄片厚度測(cè)量?jī)x器；適用于塑料薄膜、薄片、紙張、橡膠、電池隔膜、箔片、無(wú)紡布、土工布、硅片等各種材料的厚度測(cè)量。
工作原理
采用機(jī)械接觸式測(cè)量原理，截取一定尺寸的式樣；通過(guò)控制面板按鈕，調(diào)節(jié)測(cè)量頭降落于式樣之上；依靠?jī)蓚€(gè)接觸面產(chǎn)生的壓力和兩接觸面積通過(guò)傳感器測(cè)得的數(shù)值測(cè)量材料的厚度
高精度薄膜測(cè)厚儀應(yīng)用標(biāo)準(zhǔn)
該儀器符合多項(xiàng)國(guó)家和標(biāo)準(zhǔn)：ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、 GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817