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對于半導體QC來說，FT-IR光譜作為一種簡單而有效的工具從眾多手段中脫穎而出。布魯克生產的FT-IR譜儀可提供各種產品組合，用以幫助在開發和過程控制方面進行創新。
講堂主題：布魯克FTIR在硅產品質控領域的系列方案
開播時間：7月28日（周三）15:30準時開播
演講人：布魯克光譜德國應用專家 吳丹博士
在此次舉行的免費網絡研討會中，我們將向您介紹布魯克使用FT-IR光譜進行半導體質量控制的高靈敏度解決方案，敬請關注！
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