2023年9月6日至8日，由中國分析測試協會主辦的北京分析測試學術報告會暨展覽會（簡稱“BCEIA”）將在中國國際博覽中心（順義館）正式召開。
該展會現已成為國內分析測試領域專業化程度和知名度高的盛會，在促進國際間科學技術交流，推動我國分析測試科學和儀器制造技術的發展起到重要作用。
第二十屆北京分析測試學術報告會暨展覽會
時間：2023年9月6日-9月8日
地點：北京·中國國際博覽中心（順義館）
展位號：E-1532
布魯克光譜即將攜手布魯克核磁、質譜和X射線衍射部門共同亮相此次展會。我們將展出優質的傅立葉變換紅外光譜儀、傅立葉變換近紅外光譜儀、拉曼光譜儀、遙感遙測譜儀等先進儀器，還將為您帶來紅外光譜解決方案，不負您對布魯克高品質的期望。
屆時，還有我們的產品專家們會在現場為您介紹產品并進行技術交流。我們誠邀您的光臨！
展品預覽
MPA II多用途傅立葉變換近紅外分析儀
MPA II是可用于開發復雜的校準方法，以滿足您的實驗室或工藝需求，同時也是日常工作中易于使用的QA/QC儀器。
具有杰出的性能和穩定性：
• 長壽命光源，增強了產品耐用性，降低了維護成本；
• 經久耐用的固態激光器，可提供最佳波數精度；
• 高準直的RockSolid™干涉儀，采用了三維立體角鏡技術，均為鍍金處理；能夠提供高精度的測試結果，減少故障的發生頻率，確保儀器的穩定性；
• 高靈敏InGaAs檢測器，可以提供全波段的線性響應，保證精確性和再現性。
INVENIO®傅立葉變換紅外光譜儀
具備多種優勢：
• 精確、較快的可靠組件：用于以理想的準確度、重復性和性能，為您提供測量數據（例如，INTEGRALTM干涉儀）
• INVENIO可通過即時測量通道選件和直觀的用戶體驗（例如，最多7個檢測器），提高完成任何分析任務的效率
• INVENIO旨在提供最佳的堅固性，從而在測量過程中，有效地補償由環境引起的任何未知干擾（例如，RockSolidTM干涉儀）
• 用智能軟件和硬件監控工具，即可避免操作錯誤，從而提高FT-IR工具鏈（例如，OPUS TOUCH）的容錯能力
BRUKER OPTICS REPORT
BCEIA2023學術報告會光譜學分會
時間：9月8日上午12:18-12:30
地點：E206會議室
題目：Bruker超快速紅外成像技術（Bruker Ultra-fast infrared imaging technology）
報告人：徐媛
內容簡介：布魯克光譜一直致力于光譜技術革新，以先進的科學技術突破傳統分析壁壘。FPA面陣列檢測器、QCL量子級聯激光和Bolometer FPA檢測器等先進光學元件的使用也使得中紅外成像可以兼顧檢測速度、超高空間分辨率和數據質量。每一方面檢測極限的突破都可以為科研帶來革新，化學、生物化學和環境等傳統FT-IR不擅長的領域也逐漸也成了科研工作者新的表征熱點。
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