FIB雙束掃描電鏡是一種結合了聚焦離子束和掃描電子顯微鏡的高精度微納加工和分析設備。它的主要組成部分包括以下幾個部分：
1、離子源：FIB系統是FIB雙束掃描電鏡的核心部分，用于產生離子束。離子源通常采用電子轟擊或液態金屬源等方法產生離子。
2、離子透鏡系統：離子透鏡系統由一組電磁透鏡組成，用于對離子束進行聚焦和調節。通過離子透鏡系統，可以實現對樣品表面的精細加工和成像。
3、樣品室：樣品室是放置待加工和觀察樣品的空間。樣品室通常采用高真空環境，以減少氣體分子對離子束的影響。
4、掃描器：掃描器負責控制離子束在樣品表面的掃描路徑。掃描器通常采用電磁偏轉器或壓電陶瓷等方式實現離子束的精確掃描。
5、檢測器：檢測器用于收集從樣品表面反射、散射或產生的信號。常見的檢測器包括二次電子探測器、X射線能譜儀等。
6、電子槍：電子槍用于產生一束高能量的電子束，作為SEM的光源。電子束經過一系列電磁透鏡的聚焦和調節后，照射到樣品表面，產生二次電子等信號。
7、信號處理系統：信號處理系統負責對接收到的信號進行處理和分析，以獲得樣品的形貌、成分和結構等信息。
8、控制系統：控制系統負責整個FIB雙束掃描電鏡的運行和參數調節。用戶可以通過控制系統實現對離子束的能量、電流、掃描速度等參數的調節，以及對樣品的加工和觀察操作。
9、真空系統：真空系統負責維持整個高真空環境。真空系統通常包括機械泵、渦輪分子泵、真空閥等部件。
10、計算機系統：計算機系統負責控制整個FIB雙束掃描電鏡的運行，以及數據處理和圖像重建等功能。計算機系統通常采用高性能的工業控制計算機，并配備專門的軟件系統。
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