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美國LumaSense Photrix-光管光纖型高溫計
PhotriX 系列高精度紅外測溫儀具有業界jia的信噪比. 能夠以無yu倫比的精度測量較低的溫度，以控制高價值工藝和研究應用. PhotriX 通過柔性光纜與遠程的收集目標紅外輻射藍寶石光管相連. 這種配置非常適合感應加熱應用或者通用光學鏡頭光路受阻無法對目標進行測溫的情況.
產品簡介
詳細介紹
美國LumaSense Photrix-光管光纖型高溫計詳細說明：
Photrix-光管光纖型
Photrix高溫計
細節說明
PhotriX 系列高精度紅外測溫儀具有業界jia的信噪比. 能夠以無yu倫比的精度測量較低的溫度，以控制高價值工藝和研究應用. PhotriX 通過柔性光纜與遠程的收集目標紅外輻射藍寶石光管相連. 這種配置非常適合感應加熱應用或者通用光學鏡頭光路受阻無法對目標進行測溫的情況.
這種通過柔性光纜與遠程藍寶石光管相連的 Photrix 高溫計有4種波長可選，具有如下特點:
低溫測試能力 (詳見下表)
選配件包括模擬模塊 ( 4-20 mA 或 0-10V), 帶鏡頭吹掃的保護套, 8通道模塊。標準配置已包含所有必要的電纜，電源以及軟件和文檔.
典型應用
美國LumaSense Photrix-光管光纖型高溫計配置選項：
| 溫度范圍 | ||||||
| Celsius | Fahrenheit | |||||
| P/N號 | Spectral response | 直徑 2mm 光管鏡頭 | Min (°C) | Max (°C) | Min (°F) | Max (°F) |
| ML-GAPX-LO-SZ-LP2-XXX | 700-1650 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 200 μm ） | 100 | 1400 | 212 | 2552 |
| ML-GAPX-LO-MZ-LP2-XXX | 700-1650 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 600 μm ） | 65 | 950 | 149 | 1742 |
| ML-GAPX-LO-LZ-LP2-XXX | 700-1650 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 1000 μm ） | 60 | 900 | 140 | 1652 |
| ML-AAPX/088-LO-SZ-LP2-XXX | 880 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 200 μm ） | 300 | 2600 | 572 | 4712 |
| ML-AAPX/088-LO-MZ-LP2-XXX | 880 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 600 μm ） | 265 | 1900 | 509 | 3452 |
| ML-AAPX/088-LO-LZ-LP2-XXX | 880 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 1000 μm ） | 250 | 1600 | 482 | 2912 |
| ML-AAPX/090-LO-SZ-LP2-XXX | 900 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 200 μm ） | 290 | 2600 | 554 | 4712 |
| ML-AAPX/090-LO-SMZ-LP2-XXX | 900 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 600 μm ） | 255 | 1900 | 491 | 3452 |
| ML-AAPX/090-LO-LZ-LP2-XXX | 900 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 1000 μm ） | 240 | 1600 | 464 | 2912 |
| ML-GAPX/155-LO-SZ-LP2-XXX | 1550 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 200 μm ） | 155 | 2600 | 311 | 4712 |
| ML-GAPX/155-LO-MZ-LP2-XXX | 1550 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 600 μm ） | 115 | 2400 | 239 | 4352 |
| ML-GAPX/155-LO-LZ-LP2-XXX | 1550 nm | 光管長度 XXX mm , 光纜長度 Z m（纖芯 1000 μm ） | 100 | 1800 | 212 | 3272 |
60 至 900 °C 或 100 至 1400 °C ，波長 700-1650 nm
100 至 2600 °C ，波長 1550 nm
240 至 2600 °C ，波長 900 nm
250 至 2600 °C ，波長 880 nm
快速響應 (1ms)
測量精度 +/- 1.5 °C 或讀數的 0.15%
重復精度 0.01 °C (see TN-828)
感應加熱基座溫度控制
沉積過程中太陽能薄膜光伏基板的測量;
CZ 晶體生長
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