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一、產品特點

■ 光學薄膜測量解決方案；

■ 非接觸、非破壞測量；

■ 核心算法支持薄膜到厚膜、單層到多層薄膜分析；

■ 配置靈活、支持定制化

■ 采用高強度鹵素燈光源，光譜覆蓋可見光到近紅外范圍；

■ 采用光機電高度整合一體化設計，體積小，操作簡便；

■ 基于薄膜層上界面與下界面的反射光相干涉原理，輕松解析單層薄膜到多層；

■ 配置強大核心分析算法：FFT分析厚膜、曲線擬合分析法分析薄膜的物理參數信息；

二、產品應用 

廣泛應用于各種介質保護膜、有機薄膜、無機薄膜、金屬膜、涂層等薄膜測量。

三、技術參數