您好, 歡迎來到化工儀器網(wǎng)
6
HORIBA納米粒度及Zeta電位分析儀
nanoPartica SZ-100V2
納米粒度及Zeta電位分析儀
型號SZ-100-S2和SZ-100-Z2
產(chǎn)品簡介
詳細介紹
HORIBA納米粒度及Zeta電位分析儀
nanoPartica SZ-100V2
納米粒度及Zeta電位分析儀
型號SZ-100-S2和SZ-100-Z2
能表征納米顆粒的三個參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。
納米技術的研發(fā)是一個持續(xù)不斷的過程，這是為了能夠從原子和分子水平上控制物質的尺寸，從而獲得性能更好的材料與產(chǎn)品。組件的小型化——即納米級控制可以有效實現(xiàn)更快的測量速度、更好的設備性能以及更低的設備運行能耗。納米技術在日常生活中的諸如食品、化妝品和生命科學等很多領域發(fā)揮著關鍵作用。
簡單快捷的納米顆粒多參數(shù)分析！
一臺設備、三種功能，可對每個測量參數(shù)進行高靈敏度、高精度的分析。
粒徑測量范圍0.3 nm ~ 10 µm
SZ-100V2 系列采用動態(tài)光散射 (DLS) 原理測量顆粒粒徑大小及分布，實現(xiàn)了寬濃度范圍的樣品測量。
Zeta 電位測量范圍– 500 ~ + 500 mV
使用 HORIBA Zeta電位樣品池測量Zeta 電位值，通過Zeta電位可預測和控制樣品的分散穩(wěn)定性。Zeta 電位值越高，則意味著分散體系越穩(wěn)定。
分子量測量范圍1 × 10 3 ~ 2 × 10 7 Da
通過測量不同濃度下的靜態(tài)光散射強度并通過德拜記點法計算樣品的絕對分子量 (Mw) 和第二維里系數(shù) (A2 )。
SZ-100V2 系列具有良好的復雜信息處理能力和學習能力，可快速確定納米顆粒的特性！
SZ-100V2 系列具有雙光路設計，既可以測量高濃度的樣品，如漿體和染料；同時也可以用于測量低濃度樣品，如蛋白質、聚合物等。
使用單臺設備即可表征納米顆粒的三大參數(shù)——粒徑、Zeta 電位和分子量
HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池可防止樣品對其造成污染。樣品池容量（不低于容量100 μL）小適用于稀釋樣品的分析。
HORIBA研發(fā)的Zeta 電位樣品池的電極由碳材料制成，該材料不會受到鹽溶液等高鹽樣品的腐蝕。
HORIBA納米粒度及Zeta電位分析儀
SZ-100-S2 測量規(guī)格
型號 | SZ-100-S2（僅限粒徑和分子量測量） |
測量原理 | 粒度測量：動態(tài)光散射 |
測量范圍 | 粒徑：0.3 nm 至 10 μm 540 至 2× 10 7 Da（MHS 方程）*1 |
樣品濃度不超過 | 40%*2 |
粒度測量精度 | 以100 nm的聚苯乙烯乳膠球體為例，其測量精度為 ±2% （不包括標準顆粒本身的變化） |
測量角度 | 90°和173°（自動或手動選擇） |
樣品池 | 比色皿 |
測量時間 | 常規(guī)條件下約 2分鐘（從測量開始到顯示粒度測量結果） |
所需樣品量 | 12 μL *3至 1000 μL（因比色皿材料而異） |
分散劑 | 水、乙醇、有機溶劑 |
*1：Mark-Howink-Sakurada 方程，取決于樣本。
*2：取決于樣品。
*3：F 微型電池。
SZ-100-Z2 測量規(guī)格（粒度和分子量測量規(guī)格與 SZ-100-S2 相同。）
型號 | SZ-100-Z2（帶Zeta電位測量單元） |
測量原理 | Zeta 電位測量：激光多普勒電泳 |
測量范圍 | -500 至 +500 mV |
適合測量的尺寸范圍 | 不小于 2.0 nm，不大于 100 μm *4 |
測量電導率范圍 | 0 至 20 S/m*5 |
最大樣品濃度 | 40% *6 |
樣品池 | 石墨電極電位樣品池 |
測量時間 | 常規(guī)條件下約 2分鐘 |
所需樣品量 | 100 μL |
分散劑 | 水 |
*4：取決于樣品。
*5：推薦的樣品電導率范圍：0 到 2 S/m。
*6：取決于樣品。