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2021/12/17
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CPS高精度納米粒度分析儀目前有三種型號：DC12000型、DC18000型、和DC24000UHR型。。CPS納米粒度分析儀是世界上分析速度快、分辨率高以及靈敏度好的離心沉淀式納米粒度分析儀。它可以分析任何粒度分布介于0.005um-75um之間的顆粒，提供比其他粒度分析方法好10倍的分辨率，小峰值寬度可小至峰值直徑的2%，UHR可達1%。
CPS納米粒度分析儀的性能
高分辨率
CPS具有強大的分辨率，粒徑差在2%以內的窄峰可以被分辨出來。
高準確度
可追溯&校準到NIST標準顆粒的可靠、重復性結果
高精度
測試結果僅次于SEM電鏡分析結果，CPS系統(tǒng)使用已知的標定顆粒進行標定，與美國國家標準和技術研究院(NIST)相兼容的標準保證了分析結果的一致性。使用內標法，也即把已知標定顆粒與待分析樣品相混合，所得的峰值結果可以達到±0.25%的精度。可用信號分辨率(即軟件操作的數(shù)據(jù)對象)決定于數(shù)模轉換(A/D)過程。CPS系統(tǒng)使用的數(shù)模轉換可以實現(xiàn)在每秒31次取樣時保持20位以上的精度，即百萬分之一的誤差。
高靈敏度
即使只有1ug樣品，CPS也能得到一個準確的粒度分布結果。CPS納米粒度分析儀的光學系統(tǒng)和電路經過精心設計以降低信號中的噪聲，信噪比通常為50000左右，低噪聲使得系統(tǒng)具有很高的靈敏度，可檢測窄峰的重量通常小于0.01微克，這使得對于微克樣品的常規(guī)高精度分析變得可行。
速度調節(jié)
CPS可以支持的zg轉速為24,000轉/分。對于超細顆粒，其分析速度比其它產品快3倍。使用速度調節(jié)技術，可以對粒度分布范圍較廣的樣品進行分析。對于在其它分析儀上很多非常耗時(數(shù)小時或更長)的樣品，CPS可以快速得到結果。
CPS開發(fā)了一種特殊的圓盤設計使得在分析過程中可以調節(jié)圓盤的轉速，而不會對沉降液體產生擾動，轉速可以在20倍范圍內升高或者降低，這樣一來就使得分析的動態(tài)范圍幾乎增大了20倍。一般離心式分析儀的動態(tài)范圍為40，但是CPS系統(tǒng)的動態(tài)范圍可以超過1000。過去很多需要消耗整夜時間而且低精度的測量，現(xiàn)在可以使用差速沉降法快速測量，而得到高精度的結果。
