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產品簡介
neaSNOM超高分辨散射式近場光學顯微鏡是德國neaspec公司推出的第三代散射式近場光學顯微鏡（簡稱s-SNOM），其采用了散射式核心設計技術，提高了光學分辨率，并且不依賴于入射激光的波長，能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內，提供優于10nm空間分辨率的光譜和近場光學圖像。
詳細介紹
neaSNOM超高分辨散射式近場光學顯微鏡是德國neaspec公司推出的第三代散射式近場光學顯微鏡（簡稱s-SNOM），其采用了散射式核心設計技術，提高了光學分辨率，并且不依賴于入射激光的波長，能夠在可見、紅外和太赫茲光譜范圍內，提供優于10nm空間分辨率的光譜和近場光學圖像。由于其高度的可靠性和可重復性。neaSNOM業已成為納米光學領域熱點研究方向的科研設備，在等離基元、納米FTIR和太赫茲等眾多研究方向得到了許多重要科研成果。
近，neaspec公司成功開發了可見至太赫茲高分辨光譜和成像綜合系統，將上述sSNOM功能與納米紅外（FTIR）、針尖增強拉曼（TERS）、超快光譜（ultrafast）和太赫茲光譜（THz）進行聯用，可以為廣大科學工作者在等離子激元、二維材料聲子極化、半導體載流子子濃度分布、生物材料紅外表征、電子激發及衰減過程等的研究上提供相關支持。
neaSNOM超高分辨散射式近場光學顯微鏡技術特點和優勢：
neaSNOM是目前世界上成熟的s-SNOM產品
散射式近場光學測量技術
—*的*10 nm空間分辨率高階解調背景壓縮技術
—在獲得10nm空間分辨率的同時保持*的信噪比干涉式近場信號探測單元
贗外差干涉式探測技術
—能夠獲得對近場信號強度和相位的同步成像反射式光學系統
—用于寬波長范圍的光源：可見、紅外以至太赫茲高穩定性的AFM系統，
—同時優化了納米尺度下光學測量雙光束設計
—*的光學接入角：水平方向180°，垂直方向60°操作和樣品準備簡單
—僅需要常規的AFM樣品準備過程
neaSNOM重要應用領域：
表面等離激元
石墨烯
六方氮化硼
光電流/太赫茲
化學過程
高分子/生物材料