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薄膜測厚儀是依據什么原理測量的？
閱讀：1919 發布時間：2022-4-22
薄膜的厚度是否均勻是檢驗薄膜性能的依據。顯然，如果一批單層薄膜的厚度不均勻，不僅會影響薄膜的抗拉強度和阻隔性能，還會影響薄膜的后續加工。此外，合理控制產品厚度，不僅可以提高產品質量，還可以降低材料消耗，提高生產效率。因此，薄膜厚度是否均勻，是否與預設值一致，厚度偏差是否在范圍內，都是薄膜能否具備一些特性指標的重要前提。薄膜厚度測量是薄膜制造行業的基本檢測項目之一。
薄膜測厚儀采用機械接觸測量原理，截取一定尺寸的圖案；通過控制面板上的按鈕調整測頭落在圖案上；材料的厚度是通過兩個接觸面產生的壓力和傳感器測量的兩個接觸面積來測量的。
1、接觸面積和測量壓力嚴格按照標準設計，同時支持各種非標定制。
2、薄膜測厚儀測試時測頭自動升降，有效避免人為因素造成的系統誤差。
3、支持自動和手動兩種測量模式，方便用戶自由選擇。
4、系統可自動進樣，進樣步驟、測點、進樣速度等相關參數可由用戶自行設置。
5、測量結果的平均值、標準偏差等分析數據實時顯示，方便用戶判斷。
6、配置標準量塊進行系統校準，確保測試的準確性和數據一致性。
7、系統支持實時數據顯示、自動統計、打印等多項實用功能。
8、5寸觸摸屏控制，方便用戶進行測試操作和數據查看。
9、薄膜測厚儀標準USB接口，方便系統與電腦的外部連接和數據交換。