損耗分析-準費米能級檢測儀 參考價：面議
Enlitech 隆重推出QFLS-Maper 損耗分析-準費米能級檢測儀，可視覺化呈現QFLS image，一眼即可掌握樣品QFLS、Pseudo J-V、P...
光電器件響應測量與光偵測器 參考價：面議
PD-RS光電器件響應測量與光偵測器可針對光電器件 (探測器或光伏器件) 進行光電轉換過程的響應行為測量與分析。
太陽能電池Voc損耗分析儀 參考價：面議
光焱科技REPS+與G2 Voc損耗分析儀是一個完整的系統，可以幫助科學家測量、計算和分析工作中的太陽能電池中的 Voc-loss，并為下一步的工藝改進提供思路...
雷射掃描缺陷圖譜儀 參考價：面議
激光掃描缺陷成像儀是激光束感應電流（LBIC）測試的升級版本。它利用波長能量大于半導體帶隙的激光束照射半導體，產生電子空穴對。通過快速掃描樣品表面，獲得揭示內部...
光焱科技光高靈敏度外部量子效率系統 參考價：面議
在半導體器件中，不完好的結晶度往往會導致禁帶隙中的缺陷或陷阱態，這極大地影響了器件的整體光學和電學性能。由于帶隙中的吸收系數極低，產生的光電流信號也極弱。因此，...
鈣鈦礦太陽能電池瞬態光電流光電壓測試儀 參考價：面議
光電流、開路電壓的瞬態特性、載流子遷移率、載流子壽命、載流子動力學過程等是新型太陽電池器件的重要參數。由于新型太陽電池器件面積小、光電流小，非常難以準確測量出光...
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