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熒光分光光度計F-4700
更高靈敏度的檢測系統
F-4700延續使用了日立蝕刻光柵的技術，繼承了F-4600的穩定可靠性光學系統，同時通過提升激發側光能量、提高發射側檢測器性能、優化信號處理方式，使其具有更前沿的光學技術，以此實現了更高的靈敏度性能。
產品簡介
詳細介紹
熒光分光光度計F-4700
更高靈敏度的檢測系統
F-4700延續使用了日立蝕刻光柵的技術，繼承了F-4600的穩定可靠性光學系統，同時通過提升激發側光能量、提高發射側檢測器性能、優化信號處理方式，使其具有更前沿的光學技術，以此實現了更高的靈敏度性能。
熒光分光光度計F-4700特點：
燈使用壽命對比
FL Solutions 軟件性能提升
①三維光譜檢測
三維熒光光譜可以直接表征樣品激發波長和發射波長的關系，在短時間內一次性獲得大量數據，以此快速獲得最佳激發和發射波長。F-4700擁有60,000nm/min的超高速掃描速度，大幅縮短測量時間。獲得三維光譜后，可任意選擇激發發射光譜，并以二維光譜形式查看和保存。
熒光強度標準化功能畫面
豐富配件可選
F-4700主機在擁有超快波長掃描與驅動速度和超高靈敏度的同時，其配有豐富的可選附件，能夠應對多領域需求，包括LED、太陽能電池零部件等工業材料、食品檢測、生命科學、生物技術等領域。此外，為迎合市場需求，日立積極開展產品配件、軟件和應用的開發和產品化工作。
• 量子產率檢測單元
• 微量樣品檢測附件
• 多樣品檢測附件
• 偏振檢測系統
• 自動濾光器附件
• 微孔板檢測系統
• 低溫樣品檢測系統
• 光纖附件