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產品簡介
DZ3320A DTA差示分析儀差熱分析是在程序控制溫度下，測量物質與參比物之間的溫度差與溫度關系的一種技術。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時間的變化關系。在DTA試驗中，樣品溫度的變化是由于相轉變或反應的吸熱或放熱效應引起的。如：相轉變，熔化，結晶結構的轉變，沸騰，升華，蒸發，脫氫反應，斷裂或分解反應，氧化或還原反應，晶格結構的破壞和其他化學反應。
詳細介紹
DZ3320A DTA差示分析儀產品介紹：
差熱分析是在程序控制溫度下，測量物質與參比物之間的溫度差與溫度關系的一種技術。差熱分析曲線是描述樣品與參比物之間的溫度(△T)隨溫度或時間的變化關系。
DZ3320A DTA差示分析儀的工作原理：
在DTA試驗中，樣品溫度的變化是由于相轉變或反應的吸熱或放熱效應引起的。如：相轉變，熔化，結晶結構的轉變，沸騰，升華，蒸發，脫氫反應，斷裂或分解反應，氧化或還原反應，晶格結構的破壞和其他化學反應。
儀器特點：
1.儀器主控芯片采用ARM控制器，運算處理速度更快，溫度控制更。
2.采用USB雙向通訊，操作更便捷。
3.采用7寸全彩LCD觸摸屏，界面更友好。
4.采用鎳鉻合金傳感器，更耐高溫、抗腐蝕、抗氧化。
技術參數:
| 溫度范圍 | 室溫~1150℃ |
| 量程范圍 | 0～±2000uV（可以拓展） |
| DTA靈敏度 | 0.01uV |
| DTA精度 | 0.1 |
| 升溫速率 | 0.1～100℃/min |
| 溫度分辨率 | 0.01℃ |
| 溫度準確度 | ±0.1℃ |
| 溫度重復性 | ±0.1℃ |
| 溫度控制 | 升溫：程序控制 可根據需要進行參數的調 整 恒溫：程序控制 恒溫時間任意設定 |
| 爐體結構 | 爐體采用上開蓋式結構，代替了傳統的升降爐體，精度高，易于操作 |
| 氣氛控制 | 內部程序自動切換 |
| 數據接口 | 標準USB接口 配套數據線和操作軟件 |
| 顯示方式 | 24bit色 7寸 LCD觸摸屏顯示 |
| 參數標準 | 配有標準物，帶有一鍵校準功能，用戶可自行對溫度進行校正 |
| 基線調整 | 用戶可通過基線的斜率和截距來調整基線 |
| 工作電源 | AC 220V 50Hz（可定制其它規格） |