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[供應]ASME標準試片CX4-230 CX4-430磁粉探傷試片 返回列表頁
更新時間：2025-04-21 09:10:36
有效期：2025年4月21日 -- 2025年10月20日
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CX4-230 CX4-430磁粉探傷標準試片屬于美標ASME標準試片，試片用于磁粉探傷時對幾何形狀復雜，不同材質的工件檢驗時，可以正確地選擇磁化規(guī)范，并可檢驗探傷設備、磁粉或磁懸液的性能，在磁粉探傷過程中,可以避免漏檢,正確地知道探傷工作所需要的電流峰值和方向,并對顯示缺陷的磁場強度有所估量,是磁粉探傷的調試工具。
使用方法：
選適當靈敏度的試片，將刻有槽的一面用膠帶紙緊密地貼在工件上（膠帶紙貼于試片兩邊緣，不要影響試片背面的刻槽部位）。
進行外加懸場法，對工件進行磁化，并在試片上澆以磁懸液或噴磁粉（磁化規(guī)范由低檔逐提高，以顯示磁痕為界，既是磁化電流）。
上述步驟完畢后，貼在工件表面上的試片，即可清楚顯示磁痕。
注意事項：
1. 試片使用前，用柔軟紙或紗布輕輕地把試片表面的油漬擦去，在用膠帶紙緊密地貼在工件上。
2. 試片用后請涂防銹油。
3. 試片有褶皺不平或破裂，會影響探傷靈敏度，不宜繼續(xù)使用。
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