探針臺(tái)的選型
通常需要確定以下問題來確定探針臺(tái)的選型:
1、最大需要測(cè)幾英寸的晶圓或者器件?
2、 探針臺(tái)機(jī)械精度要求多高?
3、 點(diǎn)測(cè)樣品的尺寸規(guī)格為多少?100um*100um或60um*60um的pad,還是FIB制作的mini pad,還是ic內(nèi)部的metal?
4、 最多需要幾根探針同時(shí)去點(diǎn)測(cè)?
5、 是否會(huì)用到探針卡?
6、 光學(xué)顯微鏡的最小分辨率需要用到多少?
7、 顯微鏡方面,是否需要添加偏光片做LC液晶熱點(diǎn)偵測(cè)?
8、 探針點(diǎn)測(cè)時(shí),對(duì)電流的要求是否達(dá)到100fa或者以下?低電容的要求是否要做到0.1pf?是否有射頻的需求?
9、 接駁的測(cè)試儀器接口有哪些?
10、測(cè)試環(huán)境時(shí)是否會(huì)需要加熱或者降溫?
11、對(duì)chuck的漏電要求怎樣?是否需要添加低阻抗chuck?
12、是否需要防震桌?
13、若添置防震桌,是否有壓縮空氣?