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日本JEOL 場(chǎng)發(fā)射電子探針顯微分析儀 JXA-8530F Plus

產(chǎn)品特點(diǎn)：



· 肖特基場(chǎng)發(fā)射電子探針Plus

· JXA-8530F Plus采用浸沒(méi)式肖特基場(chǎng)發(fā)射電子槍,優(yōu)化了角電流密度，能利用2 μA以上的大探針電流進(jìn)行分析，還提高了分析條件下的二次電子像的分辨率。



· 靈活的WDS配置

· X射線波譜儀可以選擇140 R或100 R羅蘭圓， 羅蘭圓半徑為140 mm的XCE/L型X射線譜儀檢測(cè)范圍寬，波長(zhǎng)分辨率高和P/ B比優(yōu)異，100 mm的H型X射線譜儀具有X射線衍射強(qiáng)度高的特點(diǎn)，可以根據(jù)需要選擇使用。



· 高級(jí)軟件

· 新開(kāi)發(fā)了多種基于Windows操作系統(tǒng)的軟件，其中包括：能使痕量元素分析更加簡(jiǎn)便的“痕量元素分析程序"、能自動(dòng)制作相圖的“相圖制作器"以及只需簡(jiǎn)單輸入就能對(duì)表面凹凸不平樣品進(jìn)行測(cè)試的“不平坦樣品的分析程序"等。

· 備注：Windows7® 為美國(guó)微軟公司在美國(guó)及其它國(guó)家的注冊(cè)商標(biāo)或商標(biāo)。