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FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD菲希爾X射線測厚儀是Fischer產品組合中X射線熒光儀器之?。這臺XRF光譜儀配備了?分辨率和強?的硅漂移探測器 (SDD) ，其 涂層--例如，引線框架上約 2nm 厚的?鍍層。 結合內部開發的新數字脈沖處理器DPP+，您可以將您的測量性能提?到?個新的?平。現在可以處理更?的計數率，從?縮短測量時間或提?測量結果的重復 如，它對塑料中的微量鉛的檢測靈敏度約為2ppm - ?RoHS或CPSIA中要求的數值低?個數量級。 為了給每個XRF涂層厚度測量創造理想的條件，XDV-SDD有可切換的準直器和初級濾波器，可以?作在科學的狀態下。這款極其堅固的設備，有直觀的控制? 試?設計。
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