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GP2000探針臺 8英寸半自動探針臺
GP2000探針臺產品數據：
1.機臺可輕松實現DC ~ THZ測量。
2.提供芯片級I-V / C-V低噪聲測試系統方案。
3. 一臺機器即可適配垂直探卡、裂片后的藍膜或多Site芯片測試。
4.多孔吸附式載物臺設計，更好地兼容薄晶圓固定。
5. 高品質顯微鏡搭配高分辨率CCD系統，可直觀了解扎針情況，提高扎針 的準確性和效率。
6.可升級的高低溫系統，為芯片提供更 加成熟穩定的老化測試環境。
7.緊湊且可靠的機械設計 ，更適用于芯的測試及建模系統升級。
8.能夠根據未來需求，可提供多種升級 模塊，輕松實現探針臺功能升級。
9.短軸式拉桿設計，將更加符合新一 代芯片系統測試的需求。拉桿在任 意位置可停留、極限位置能快速鎖 定、分離位可固定，將進一步防止誤操作，提高測試效率，節省成本。
搭載射頻探針座實物照片
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