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光學(xué)檢測目視用YP-150ID霧度檢查裝置現(xiàn)貨高強度鹵素光源裝置 是一種宏觀觀察照明裝置，用于檢測最終成品表面上的各種缺陷，如異物、劃痕、拋光不均勻、霧霾、滑移...

晶圓檢測目視用UIH-1C霧度檢查照明裝置現(xiàn)貨一般來說會使用半導(dǎo)體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而...

晶圓檢測倉庫現(xiàn)貨檢查用照明裝置UIH-2D一般來說會使用半導(dǎo)體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而研發(fā)...

晶圓檢測目視用霧度檢查用UIH-3D照明裝置一般來說會使用半導(dǎo)體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而研...

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晶圓光學(xué)檢測目視檢查燈UIH-1H照明燈現(xiàn)貨一般來說會使用半導(dǎo)體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而研...

晶圓 光學(xué)檢測目視檢查燈UIH-1C照明燈現(xiàn)貨一般來說會使用半導(dǎo)體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而...

晶圓 光學(xué)檢測目視檢查燈UIH-2D照明燈現(xiàn)貨一般來說會使用半導(dǎo)體晶圓或玻璃屏等進行目視觀察，為了能觀測到劃痕，塵埃，內(nèi)部異物以及氣泡等，則需要一定的熟練度。而...

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晶圓缺陷目視檢查用現(xiàn)貨度照明燈UIH-3D當(dāng)高強度光照射到物體上時（*1），會發(fā)生廷德爾現(xiàn)象，因此可以輕松目視確認表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。*1：半...

現(xiàn)貨晶圓缺陷鹵素?zé)鬠IH-3D灰塵照射檢測燈當(dāng)高強度光照射到物體上時（*1），會發(fā)生廷德爾現(xiàn)象，因此可以輕松目視確認表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。*1：...

現(xiàn)貨晶圓缺陷光學(xué)INTECS英特斯超亮度檢查燈當(dāng)高強度光照射到物體上時（*1），會發(fā)生廷德爾現(xiàn)象，因此可以輕松目視確認表面的劃痕和污垢以及內(nèi)部的異物和氣泡。*1...

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晶圓缺陷光學(xué)檢查燈185LE目視光源185LE現(xiàn)貨185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制...

安德魯斯S-VAN光學(xué)檢測目視光源185LE現(xiàn)貨185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造...

光學(xué)檢測設(shè)備目視光源185HLE照明裝置現(xiàn)貨185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏制造等行...

光學(xué)檢測185LE電源控制器185HLE-MK2現(xiàn)貨185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏...

晶圓缺陷185LE L專配鹵素?zé)舯?7V185W現(xiàn)貨185-LE是目視檢查晶圓、鏡頭、玻璃基板的表面等為目的的光源。適合于TFT面板、CF(彩色濾光片)、觸摸屏...

晶圓缺陷185LE-AL標配鹵素?zé)舯?85/17LFA 185-LE是目視檢查...