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XGT-9000-HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀
  • XGT-9000-HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀
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貨物所在地:上海上海市

更新時間:2025-06-09 08:23:38

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HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀
型號XGT-9000
XGT-9000 樣品倉可容納各種樣品,包括微型碎片、印刷電路板、硬幣、薄片、粉末、液體、晶圓等,并根據需求提供樣品架。

HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀

XGT-9000

速度和靈活性兼備是微區 X 射線熒光光譜的發展方向

   

<15µm高強度X射線頭,兼具高靈敏度和高空間分辨率

高分辨相機和多種照明模式成像

雙檢測器熒光X射線檢測器和透射X射線檢測器

輕元素檢測器使元素檢測范圍下延到C元素

HORIBA堀場微區X射線熒光分析儀

技術參數

型號

XGT-9000

XGT-9000SL

基本信息

儀器

微區X射線熒光分析儀

樣品類型

固體、液體、顆粒

檢測元素

輕元素檢測器:C* – Am
(常規檢測器:F – Am)

樣品倉尺寸

450(W) x 500(D) x 80(H)

1030(W) x 950(D) x 500(H)

樣品尺寸

300(W) x 250(D) x 80(H)

500(W) x 500(D) x 500(H)

樣品質量

1 kg

10 kg

光學觀察

兩個帶物鏡的高分辨率相機

光學設計

垂直同軸 X 射線和光學觀察

樣品照明/觀察

頂部、底部和側向照明/明場和暗場

X-射線管

功率

50 W

電壓

50 kV以下

電流

1 mA以內

靶材

Rh

X射線光光學系統

X射線頭數量

多達配置四個

光譜優化初級X-射線濾光片  

5個位置

檢測器

熒光X-射線檢測器

硅漂移檢測器(SDD)

透射X射線檢測器

NaI(Tl)

掃描分析

掃描范圍

100 mm x 100 mm

350 mm x 350 mm

步進尺寸

2 mm

4 mm

Operating mode

樣品環境

全真空/局部真空/大氣環境/He吹掃(選配)

局部真空/大氣環境/He吹掃(選配)*He吹掃條件對于兩個檢測器都檢測到C和F是必要的。




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