目錄:上海首立實業有限公司>>物理性能測試儀器>>材料試驗機系列>> XP2002S 精密天平
| 規格 - XP2002S 精密天平 | |
| zui大稱量值 | 2100 g |
| 可讀性 | 10 mg |
| 去皮范圍 | 0…2100 g |
| 重復性 | 8 mg |
| 線性 | 20 mg |
| 偏心負載 | 20 mg |
| 內部砝碼校準 | proFACT專業級全自動校準技術, 溫度漂移和時間觸發的全自動內校 |
| 外部砝碼校準 | 用戶砝碼 |
| 靈敏度精度 | 3x10-5·Rnt |
| 靈敏度穩定性 | 2.5x10-5/a·Rnt |
| 穩定時間（典型） | 1.2 s |
| 接口更新速率 | 23/s |
| 秤臺尺寸 | 194 x 257 x 96 mm W x D x H |
| 終端尺寸 | 194 x 133 x 58 mm W x D x H |
| 秤盤尺寸 | 170 x 205 mm W x D |
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