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當前位置：上海麥科威半導體技術(shù)有限公司>>產(chǎn)品展示>>微納測試儀器>>全自動探針臺
CAPELLA系列探針臺支持從晶圓到封裝芯片級的所有LED產(chǎn)品類型（垂直芯片、橫向芯片、倒裝芯片）的電氣和光學表征。無論您是需要高性能、高性價比還是專業(yè)探針系統(tǒng)...
入門級手動探針臺，用于表面耦合和水平邊緣耦合FormFactor推出了一種具有成本效益的硅光子學測量解決方案，以支持新興應(yīng)用的基礎(chǔ)研究工作。該系統(tǒng)的設(shè)計是For...
CM300xi 探針臺可應(yīng)對極其復(fù)雜的環(huán)境帶來的測量挑戰(zhàn)，例如在長時間和多種溫度下在小焊盤上進行無人值守的測試。在 EMI 屏蔽、光密和無濕氣的測試環(huán)境中，為各...
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