| 產地類別 |
進口 |
價格區間 |
5萬-10萬 |
| 應用領域 |
電子/電池,道路/軌道/船舶,制藥/生物制藥,汽車及零部件 |
Otsuka大塚膜厚儀不僅不會破壞您的樣品，也不會因用戶不同而產生誤差且遠高于接觸式膜厚的量測精度。利用光散射作為新材料分析的核心技術，并將其應用于納米技術領域的物性測量。以粒子大小、電位和分子量的測量方法作為基準，拓展新材料、生命科學、高分子化學，以及半導體和醫藥等領域的應用。
OTSUKA/日本大塚電子從其創立之初就以光散射技術和分離技術為基礎，這些技術不僅是公司的技術根源，也是新材料分析的核心技術并以這些技術開發、生產和銷售好的產品。利用光散射技術的產品是大塚電子歷史最悠久的產品系列之一。在許多大學、機構和企業中，做為功能材料和新材料物性評估測量設備被高度評價。在接受各方面的建議和幫助下，不斷開發絕對分子量測定、微粒子粒徑測定和電位測定設備，并在各應用領域進行改進。同時，從基礎研究到質量控制的用途不斷擴大，在這一領域已經成為日本好的國產制造商，獲得了高的信任。
利用光散射作為新材料分析的核心技術，并將其應用于納米技術領域的物性測量。以粒子大小、電位和分子量的測量方法作為基準，拓展新材料、生命科學、高分子化學，以及半導體和醫藥等領域的應用。
Otsuka大塚膜厚儀● 可攜帶至現場的手持式
具有形狀的樣品也可非破壞的測量
● 可測量0.1μm單位
● 不論基材材質、可測量其鍍膜
● 可測量0.1μm單位
Otsuka大塚膜厚儀● 具有形狀的樣品也可非破壞的測量
● 不論基材材質、可測量其鍍膜
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