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iPHEMOS-DD倒置微光顯微鏡是一款半導體失效分析系統，通過檢測半導體裝置缺陷引起的微弱的光發射和熱發射來準確定位半導體器件的失效位置

用于測量光伏材料的光致發光（PL）壽命緊湊型近紅外光致發光壽命測量儀C12132系列是專門為測量近紅外波段的光致發光譜（PLSpectrum）和光致發光壽命（P...

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C9920-02G型量子效率測量系統采用了光致發光法（photoluminescence）來快速而準確地測定量子效率

C9920-03G型量子效率測量系統采用了光致發光法（photoluminescence）來快速而準確地測定量子效率

發光材料以其熒光量子產率為特征

C9920-03G型量子效率測量系統采用了光致發光法（photoluminescence）來快速而準確地測定量子效率

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時間分辨吸收光譜分析系統是在極短的時間內進行瞬態吸收光譜測量的裝置

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近紅外條紋相機C11293-02在近紅外區域提供比以前更高的靈敏度

C4575-03型X射線條紋相機采用了能實現的時間分辨率和空間分辨率的新型X射線條紋管

飛秒條紋相機C11853-01的時間分辨率是傳統條紋相機C6138（FESCA-200）的兩倍

C13410是一款能處理大量的光電子的高動態范圍條紋相機

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