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放大倍數：20-30,000;
分辨率：優于30nm
電子槍：1500小時CeB6燈絲
抽真空時間：10秒
樣品移動方式：自動馬達樣品臺
樣品定位方式：光學和低倍電子雙重導航
樣品導電性要求：無需噴金，直接觀測絕緣體
環境掃描選件（ESEM）：溫控樣品臺，可直接觀測液體
可升級為Phenom Pro 專業版
Phenom(飛納) Pure（飛納臺式掃描電鏡 標準版） 一款性能和價格介于光學顯微鏡和傳統大電鏡之間的經濟型臺式掃描電鏡，可用于測量亞微米尺寸的樣品。Phenom Pure 適用于傳統大電鏡待測樣品的快速篩選，也適合于光學顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。
表面細節豐富的高分辨率照片Phenom(飛納) Pure 為您提供高信噪比、表面細節豐富的圖像：30000x連續放大，分辨率優于30nm，大景深；傳統電鏡往往通過提高加速電壓來產生更高的信號，同時由于穿透深度較深，導致表面細節缺失。低加速電壓、電子穿透深度淺，避免樣品被破壞，展現更多表面細節；探測背散射電子，展現清晰形貌結構的同時，提供豐富的成份信息；5kV低加速電壓下，電子反應區位于樣品表面，配合高亮CeB6燈絲，既保證了分辨率，又得到樣品表面的信息 CeB6燈絲在樣品表面單位面積內激發的信號約是鎢燈絲的10倍，適合于低加速電壓觀測
表面形貌和成分信息同時展現
背散射電子的產率、出射角度與樣品成份及表面形貌相關。Phenom（飛納）采用4分割半導體背散射電子探測器，為您提供兩種成像模式，
模式之間可迅速切換：
成份模式：同時給出樣品表面形貌與成份信息，不同元素可由其灰度對比度的不同加以分辨。
形貌模式：去除成份信息，樣品表面凹凸起伏等微觀結構更加明晰，適用于表面粗糙度和缺陷分析成份模式 4分割背散射電子探測器扇區所得的信號相疊加形貌模式 4分割背散射電子探測器扇區所得的信號相抵消成份模式圖像包含樣品成份與形貌信息形貌模式圖像僅突出樣品表面形貌特征。
樣品杯，30秒快速成像
Phenom（飛納）樣品杯、低真空設計、的真空封鎖技術，裝入樣品后30秒內即可得到高質量圖像，耗時僅為傳統電鏡的1/10左右。
直接觀看絕緣體，無需噴金Phenom（飛納）采用低真空技術，出射電子與空氣分子碰撞產生正離子，正離子與樣品表面累積的電子中和，有效抑制荷電效應的產生，直接觀測各種不導電樣品（如下圖所示）。利用降低荷電效應樣品杯，更可將開始荷電的放大倍數提高8倍左右，而且不會影響燈絲壽命，下圖頭發示例：
操作簡便，全程導航•自動/手動聚焦Phenom（飛納）操作界面。通過點擊右側圖標可以輕松完成圖像縮放、聚焦、亮度對比度調節、旋轉等操作。界面右側顯示光學導航和低倍SEM導航窗口，方便用戶在不同樣品、不同區域間進行切換。•自動/手動亮度•自動/手動對比度•自動燈絲居中調節•自動馬達樣品臺•光學/電子樣品導航光學導航，所有帶觀測樣品盡在視野之中，高倍下準確切換樣品，只需點擊感興趣樣品，即可自動移動到屏幕中央低倍SEM照片導航，導航窗口中的彩色矩形框指示了住觀測窗口的觀測區域，點擊感興趣的區域，自動移動到樣品中央
環境適應性高，*防震Phenom（飛納）可以放置在幾乎所有的室內環境當中，無需超凈間。采用燈絲、探測器、樣品臺相對一體化的設計，震動不會引起三者間的相對運動，使Phenom成像不受震動影響，可放置在較高樓層。
互聯網遠程檢測Phenom（飛納）擁有遠程檢測功能，通過網絡，專業工程師可隨時為您遠程檢測系統、答疑解難，為您提供的保護，讓您的Phenom隨時處于*工作狀態。
適用于不同領域的樣品杯選件
分辨率：優于30nm
電子槍：1500小時CeB6燈絲
抽真空時間：10秒
樣品移動方式：自動馬達樣品臺
樣品定位方式：光學和低倍電子雙重導航
樣品導電性要求：無需噴金，直接觀測絕緣體
環境掃描選件（ESEM）：溫控樣品臺，可直接觀測液體
可升級為Phenom Pro 專業版
Phenom(飛納) Pure（飛納臺式掃描電鏡 標準版） 一款性能和價格介于光學顯微鏡和傳統大電鏡之間的經濟型臺式掃描電鏡，可用于測量亞微米尺寸的樣品。Phenom Pure 適用于傳統大電鏡待測樣品的快速篩選，也適合于光學顯微鏡的分辨率無法滿足需求的客戶。
表面細節豐富的高分辨率照片Phenom(飛納) Pure 為您提供高信噪比、表面細節豐富的圖像：30000x連續放大，分辨率優于30nm，大景深；傳統電鏡往往通過提高加速電壓來產生更高的信號，同時由于穿透深度較深，導致表面細節缺失。低加速電壓、電子穿透深度淺，避免樣品被破壞，展現更多表面細節；探測背散射電子，展現清晰形貌結構的同時，提供豐富的成份信息；5kV低加速電壓下，電子反應區位于樣品表面，配合高亮CeB6燈絲，既保證了分辨率，又得到樣品表面的信息 CeB6燈絲在樣品表面單位面積內激發的信號約是鎢燈絲的10倍，適合于低加速電壓觀測
表面形貌和成分信息同時展現
背散射電子的產率、出射角度與樣品成份及表面形貌相關。Phenom（飛納）采用4分割半導體背散射電子探測器，為您提供兩種成像模式，
模式之間可迅速切換：
成份模式：同時給出樣品表面形貌與成份信息，不同元素可由其灰度對比度的不同加以分辨。
形貌模式：去除成份信息，樣品表面凹凸起伏等微觀結構更加明晰，適用于表面粗糙度和缺陷分析成份模式 4分割背散射電子探測器扇區所得的信號相疊加形貌模式 4分割背散射電子探測器扇區所得的信號相抵消成份模式圖像包含樣品成份與形貌信息形貌模式圖像僅突出樣品表面形貌特征。
樣品杯，30秒快速成像
Phenom（飛納）樣品杯、低真空設計、的真空封鎖技術，裝入樣品后30秒內即可得到高質量圖像，耗時僅為傳統電鏡的1/10左右。
直接觀看絕緣體，無需噴金Phenom（飛納）采用低真空技術，出射電子與空氣分子碰撞產生正離子，正離子與樣品表面累積的電子中和，有效抑制荷電效應的產生，直接觀測各種不導電樣品（如下圖所示）。利用降低荷電效應樣品杯，更可將開始荷電的放大倍數提高8倍左右，而且不會影響燈絲壽命，下圖頭發示例：
操作簡便，全程導航•自動/手動聚焦Phenom（飛納）操作界面。通過點擊右側圖標可以輕松完成圖像縮放、聚焦、亮度對比度調節、旋轉等操作。界面右側顯示光學導航和低倍SEM導航窗口，方便用戶在不同樣品、不同區域間進行切換。•自動/手動亮度•自動/手動對比度•自動燈絲居中調節•自動馬達樣品臺•光學/電子樣品導航光學導航，所有帶觀測樣品盡在視野之中，高倍下準確切換樣品，只需點擊感興趣樣品，即可自動移動到屏幕中央低倍SEM照片導航，導航窗口中的彩色矩形框指示了住觀測窗口的觀測區域，點擊感興趣的區域，自動移動到樣品中央
環境適應性高，*防震Phenom（飛納）可以放置在幾乎所有的室內環境當中，無需超凈間。采用燈絲、探測器、樣品臺相對一體化的設計，震動不會引起三者間的相對運動，使Phenom成像不受震動影響，可放置在較高樓層。
互聯網遠程檢測Phenom（飛納）擁有遠程檢測功能，通過網絡，專業工程師可隨時為您遠程檢測系統、答疑解難，為您提供的保護，讓您的Phenom隨時處于*工作狀態。
適用于不同領域的樣品杯選件
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