隨著技術的發展,光學薄膜的光學性能也在廠家的不斷提高,市場需要更好的產品,其中在液晶面板吃起的成產中,也液晶貼的的一層膜的配向角度的優良很大程度上影響生產出來的液晶面板的顯示效果的好壞。關于如何了解這一層配向膜(PI)的配向角度,研發人員一直沒有合適設備來測量, 近期,日本的phl廠家帶來一款通過測量雙折射的方法來檢測配向角度的設備。
測量示例:
通過WPA-200的檢測,可以知道產品的雙折射大小和方向,內應力的分布情況,在經過分析得到數據。
免責聲明
- 凡本網注明“來源:化工儀器網”的所有作品,均為浙江興旺寶明通網絡有限公司-化工儀器網合法擁有版權或有權使用的作品,未經本網授權不得轉載、摘編或利用其它方式使用上述作品。已經本網授權使用作品的,應在授權范圍內使用,并注明“來源:化工儀器網”。違反上述聲明者,本網將追究其相關法律責任。
- 本網轉載并注明自其他來源(非化工儀器網)的作品,目的在于傳遞更多信息,并不代表本網贊同其觀點和對其真實性負責,不承擔此類作品侵權行為的直接責任及連帶責任。其他媒體、網站或個人從本網轉載時,必須保留本網注明的作品第一來源,并自負版權等法律責任。
- 如涉及作品內容、版權等問題,請在作品發表之日起一周內與本網聯系,否則視為放棄相關權利。