超聲波檢測中聲速和探頭零點校準是因為狀態行所顯示參數的計算都是與聲速和探頭零點相關，所以在探傷前請務必校準；聲程校準是為了使屏幕上顯示適當聲程范圍內的波形，以便更好地判斷、評價缺陷。

斜探頭校準

1、校準入射點（探頭前沿）：用IIW試塊（又稱荷蘭試塊）或CSK－IA試塊測斜探頭零點，將儀器聲速調節為3230m/s，顯示范圍為150mm，然后開始測試，用戶如圖將探頭放在試塊上并移動，使得R100mm的圓弧面的反射體回波達到ZHUI高，用直尺量出探頭前端面和試塊R100mm弧圓心距離，此值即為該探頭的前沿值，R100mm弧圓心對應探頭上的位置即為探頭入射點。 斜探頭校準通常需要以下步驟：1、校準入射點（探頭前沿）；2、校準探頭角度（K值）；3、校準材料聲速；4校準探頭零點。

2、校準探頭角度（K值）：用角度值標定的探頭可用IIW試塊校準，如果是用K值標定的探頭，可用CSK－IA試塊校準。這兩種試塊上有角度或K值的標尺，按探頭標稱值選擇合適的標尺（右圖所示，在IIW試塊上側可校準60－76度的探頭，下側可校準74－80度的探頭，CSK-IA試塊上側可校準K2.0、K2.5、K3.0的探頭，下側可校準K1.0、K1.5的探頭。請按試塊上的標定值選擇用合適的校準試塊及校準方法）。如圖放置探頭，左右移動使得反射體回波達到ZHUI高，此時入射點對應的刻度就是探頭的角度或K值。

3、校準材料聲速按照1中所述找到R100mm的ZHUI高反射波，調節顯示范圍使得屏幕上能顯示該弧面的二次回波，選擇閘門方式為雙閘門，調節A閘門與一次回波相交，調節B閘門與二次回波相交，調節聲速值使得狀態行中聲程測量值（S）為100，此時得到的聲速值即為該材料的實際聲速值。

4、校準探頭零點保持上面的測量狀態，將閘門方式改為正或負，調節探頭零點使得狀態行中聲程測量值（S）再次為100，此時得到的探頭零點值即為該探頭的零點值。

斜探頭的校準方法有很多，并不*拘泥于用標準試塊進行校準，也可以用已知深度的小孔進行校準，理論上參考反射體越小，校準的精度越高，但校準的難度也相應的加大。用小孔校準時可通過測量小孔的深度和水平位置，計算斜率來校準角度，并利用測得的深度或水平位置值校準聲速和探頭零點。