為了研究植物的生長、產量和品質與光能利用的關系，有必要調查植物冠層的光資源，測量植物冠層對光的截獲量。以前技術不成熟的時候，科研人員很難對其進行測量和分析，往往需要大量的時間和精力。隨著科學技術的發展，冠層分析儀得到了研究者的廣泛應用。從實際應用來看，該儀器仍然可以發揮很大的作用。

冠層分析儀通過處理圖像數據文件獲得冠層結構，如葉面積指數、光照間隙和間隙分布。通過分析輻射數據的相關信息，可以計算出冠層截獲的PAR和冠層以下的輻射水平。因此，與直接測量方法相比，利用冠層分析儀測量冠層數據可以避免直接測量方法對植被造成大規模破壞的缺點。而且使用儀器進行測量操作具有方便、不受時間限制、數據量大等優點，非常適合現代農業科研。目前，冠層分析儀廣泛應用于農業、園藝、林業等領域與栽培、育種、植物類群比較和開發相關的研究和教學工作中，并在實際應用中發揮了作用。