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numerik jena光柵KIT R 411B 92/3600 K01 RA細分誤差
德國NUMERIK JENA成立于1976年，開發、生產和銷售高分辨率和高精度光電掃描直線光柵尺和旋轉編碼器。我們的產品是業內的，其特別小巧的尺寸 - 靈活通用性使這些產品得到廣泛的應用。我們的EPIFLEX讀數模塊擁有優良的性能，特別適用于集成在所有高科技的應用中。
我們擁有先進的生產技術，并用先進技術生產高科技的測量系統。豐富的自主生產設備確保產品的高質量和高重復精度。我們致力于不斷提高和開發創新的產品，在國際市場上贏得市場地位。NUMERIK JENA擁有現代化的生產技術，包括光刻技術、薄膜技術、結構和連接技術、機械生產和組裝技術。這些技術不僅縮短生產時間，還提供更高靈活性。
無論是標準化的產品還是個性化的產品，我們的高質量測量系統都是您的理想選擇。我們愿與您一道共同探索能滿足您應用要求的解決方案。
我公司全體員工為您提供支持，幫助您實現創意和在全球各地保持成功
LIKgo是NUMERIK JENA推出的全新、特別設計的直線光柵尺，用以更好地滿足客戶的要求。全新兩場讀數模塊提升多項性能，簡化用戶的安裝操作。
全新入門級的LIKgo敞開式光學光柵尺性能優異，為即將推出的多款產品打造基礎。全新設計還創新地融合NUMERIK JENA產品的突出優點。全新LIK系列產品設計的目標是：易用性、廣泛的應用范圍和高質量標準。
性能特點
小巧和輕型讀數頭
20 µm柵距和測量步距達78.125 nm
全新2場掃描技術，提供高的信號質量
無相位和偏移誤差
更小細分誤差
極小的功耗和發熱
無需其它電子電路，在讀數頭中細分TTL信號
安裝后可進行電子調試，減小靜態安裝誤差
改進“調試工具”的連接
技術參數
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