半導體印刷線路板鍍層測厚儀 X熒光光譜儀EDX2000A能量色散X熒光光譜儀(全自動微區膜厚測試儀)對平面、凹凸、拐角、弧面等各種簡單及復雜形態的樣品進行快速對焦分析，滿足半導體、芯片及PCB等行業的非接觸微區鍍層厚度測試需求。通過自動化的X軸Y軸Z軸的三維移動，雙激光定位和保護系統。

應用領域
電鍍行業、電子通訊、航天新能源、五金衛浴、電器設備
汽車制造、磁性材料、貴金屬電鍍、高校及科研院所等

超高硬件配置
半導體印刷線路板鍍層測厚儀 X熒光光譜儀采用Fast-SDD探測器,高達129eV分辨率,能地解析每個元素的特征信號,針對復雜底材以及多層復雜鍍層,同樣可以輕松測試。
搭配大功率X光管,能很好的保障信號輸出和激發的穩定性,減少儀器故障率。
高精度自動化的X、Y、Z軸的三維聯動,更快速地完成對微小異型(如弧形、拱形、螺紋、球面等)測試點的定位。

設計亮點
上照式設計，可適應更多異型微小樣品的測試。相較傳統光路，信號采集效率提升2倍以上?？勺兘垢呔珨z像頭，搭配距離補正系統，滿足微小產品，臺階，深槽，沉孔樣品的測試需求。可編程自動位移平臺，微小密集型可多點測試，大大提高測樣效率。自帶數據校對系統。

軟件界面
人性化的軟件界面，讓操作變得更加便捷。
曲線的中文備注，讓您的操作更易上手。
儀器硬件功能的實時監控，讓您的使用更加放心。